机构简介
北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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集成电路和电子器件检测

发布时间：2023-10-25 12:11:10 点击数：
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检测样品

集成电路和电子器件

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

寿命/可靠性试验稳态寿命扫频振动密封热冲击老练盐雾温度循环老练前电测试老练试验随机振动耐湿粒子碰撞噪声检测试验密封前老练机械冲击稳定性烘焙低气压反偏老炼密封

检测标准

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1016.2

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1005.9

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 2007.3

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1014.13

半导体集成电路通用规范 GJB 597B-2012 附录B

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 5004.11 3.1.10

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 5004.11 3.1.9

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1015.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5004.2 3.1.9

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 2026

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1004.7

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5004.2 3.1.10

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1005.1

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1011.9

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 2020.9

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1030.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2002.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1008.1

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1001

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1009.8

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1011.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1010.1

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 2002.5

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2020.1

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1008.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1016.1

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1010.8

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1015.10

微电子器件试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法 1030.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1014.2

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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