样品名:模拟集成电路
试验周期:10-15个工作日
耐久性试验失调电流Ios耐久性试验响应时间正输入电流Ib+电源电流负输入电流Ib-截止频率偏置电流Ibias短路电流失调电压Vos差分输入线性放大器输入失调电压和单端输入线性放大器的偏置电压共模输入电压Vicm差分输入线性放大器输入失调电压共模抑制比CMRR输入失调电流两种方法电源电压抑制比PSRR输入偏置电流两种方法开环电压增益输入失调电压温度系数基准电压Vref输入失调电流温度系数电压调整率Reg/ln开环电压放大倍数两种方法电流调整率Reg/ld共模抑制比两种方法纹波抑制比电源电流抑制比两种方法模拟电压工作范围VA差分放大器的输出电压范围(直流)导通电阻Ron共模输入电压范围导通电阻路差ΔRon短路输出电流截止态漏级漏电流ID(off)满输出电压幅度的上限频率截止态源级漏电流IS(off)输出电压最大变化率(转换速率)导通态漏电流IDS(on)输入偏置电流温度系数开启时间ton调整输出电压的温度系数关断时间toff输入电压变化的瞬态响应通道转换时间tT负载电流变化的瞬态响应触发电压VTR触发电流ITR复位电压VR复位电流IR阀值电流IT阀值电压VT控制端电压VC线性误差EL馈通误差EF共摸抑制比KCMR共摸输入电压范围VIC转换速率SR建立时间tset
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000 Ⅳ.2.5
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000IEC 748-3:1986 第IV篇 第3节 6
IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 2半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
模拟集成电路测试系统
模拟集成电路测试系统
模拟集成电路测量系统