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北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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半导体集成电路电压调整器检测

发布时间：2023-03-09 17:42:50 点击数：0
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检测样品

半导体集成电路电压调整器电压调整器集成电路电压调整器

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

纹波抑制比 SRIP基准电压输出电压和输出电压偏差输出噪声电压基准电压 VREF电源纹波抑制比输出阻抗负载调整系数和稳定系数短路电流电流调整率电流调整率 SI温度循环输出电流限制输入调整系数和稳定系数短路电流 IOS电压调整率 SV电压调整率输出电流调整率最小输入输出电压差输出电压（VO）和输出电压偏差（△VO）耗散电流 ID和耗散电流变化 △ID备用消耗电流 ID和备用消耗电流变化 △ID纹波抑制比输出电压稳定性烘焙静态电流输出电压温度系数电压调整率 SV

检测标准

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.3

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.10节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.17节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.6节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.10

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.3节

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.9

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节4

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.8

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.2

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.10

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.15节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.2节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.8节

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节2

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.10

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.8

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.2

半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第IV篇 第3节

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.1

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.1

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.2

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.3

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.12

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.9节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.17

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.7

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.1节

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.7

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节3

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.10

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节12

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.3

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB∕T4377-2018 4.12节

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节7

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.3

半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.4

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.8

半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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