半导体分立器件和集成电路光电子器件
7-15个工作日,加急实验一般5个工作日
输入反向漏电流 IR输出高电平电压VOH正向电压(输入二极管)VF集电极-发射极截止电流 ICEO反向击穿电压(二极管)VR高电平电源电流ICCH电流传输比CTR输出低电平电压VOL低电平电源电流ICCL集电极-发射极击穿电压正向电流(二极管)IF发射极-集电极击穿电压 VECO集电极-发射极截止电流(直流法)ICEO反向击穿电压(二极管)集电极-发射极饱和电压正向电压(输入二极管)输出高电平电压VOH
半导分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 4.1
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.14
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.3
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.1
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.8
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16
半导分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.1
半导分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 4.2
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.15
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.17
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法5.6
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.2
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.6
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法3
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法5.4
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法5.7
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法5.1
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.14
以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师