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北检(北京)检测技术研究院(简称:北检院),依托科研测试与材料检测重点领域,结合“211工程”和“985工程”建设,面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务,构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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半导体集成电路微处理器及外围接口电路检测

发布时间:2023-07-06 17:07:49 点击数:0
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检测样品

半导体集成电路微处理器及外围接口电路

实验周期

7-15个工作日,加急实验一般5个工作日

检测项目

功能测试输出高电平电压 VOH输入低电平电流 IIL输入高电平电流 IIH输出高电平电压静态条件下的电源电流输出低电平电压 VOL输出高阻态电流 IOZ输入高电平电流动态条件下的总电源电流数字集成电路的功能检验方法输出短路电流IOS传输时间输入低电平电流输出低电平电压输出高阻态时电流建立时间、保持时间输出高阻态电流 IOZ

检测标准

半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节6

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 1

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 2

《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节第1条

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7

《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节第2条

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 1

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 6

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 3

《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第3节第4条

《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节第7条

《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第3节第1条

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7

以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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