半导体集成电路微处理器及外围接口电路
7-15个工作日,加急实验一般5个工作日
功能测试输出高电平电压 VOH输入低电平电流 IIL输入高电平电流 IIH输出高电平电压静态条件下的电源电流输出低电平电压 VOL输出高阻态电流 IOZ输入高电平电流动态条件下的总电源电流数字集成电路的功能检验方法输出短路电流IOS传输时间输入低电平电流输出低电平电压输出高阻态时电流建立时间、保持时间输出高阻态电流 IOZ
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节6
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《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节第1条
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《半导体集成电路第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节第2条
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