扫描电子显微镜(SEM)测试仪器-物理测试仪器
CNAS认证
CMA认证
扫描电子显微镜(SEM)
主要用途
扫描电子显微镜是用于观察材料表面微观形貌的大型精密仪器。广泛应用于材料科学、生物医学、电子工程、地质勘探等领域,能够提供样品表面高分辨率的形貌图像和元素分布信息。
参数指标
分辨率:0.8nm(SE)、1.2nm(BSE);放大倍数:20-300000倍;加速电压:0.3-30kV;束流:1pA-100nA;样品室:可容纳直径300mm样品;工作距离:1-150mm。
主要样品类型
适用于各类固体样品,包括:金属材料、陶瓷、矿石、生物样品、半导体器件、聚合物、复合材料、纳米材料、薄膜等。
主要实验项目
表面形貌观察、断裂面分析、颗粒尺寸测量、孔隙结构分析、薄膜厚度测定、元素分布mapping、能谱分析(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)、原位加热/拉伸测试等。