纳米碳材料原料检测

信息概要

纳米碳材料原料检测是针对各类纳米碳材料的基础性能、结构特征及纯度等关键指标进行的专业化分析服务。纳米碳材料因其独特的物理化学性质，在能源、电子、医疗等领域具有广泛应用，但其性能高度依赖原料质量。通过第三方检测机构的科学评估，可确保材料符合研发、生产及行业标准要求，避免因原料缺陷导致的产品失效或安全隐患，同时为生产工艺优化和质量控制提供数据支撑。

检测项目

碳含量, 灰分, 挥发分, 比表面积, 孔径分布, 密度, 粒径分布, 形貌特征, 晶体结构, 元素组成, 表面官能团, 导电性, 热稳定性, 抗氧化性, 机械强度, 分散性, 纯度, 金属杂质含量, 氧含量, 氢含量

检测范围

碳纳米管, 石墨烯, 碳纤维, 纳米金刚石, 碳黑, 富勒烯, 碳气凝胶, 碳纳米角, 碳纳米洋葱, 碳纳米带, 多孔碳, 碳量子点, 石墨炔, 碳化硅纳米线, 碳包覆材料, 碳纳米笼, 碳纳米泡沫, 碳纳米片, 碳纳米球, 碳纳米墙

检测方法

X射线衍射（XRD）：分析材料晶体结构及相纯度。

拉曼光谱（Raman）：表征碳材料缺陷程度和有序性。

透射电子显微镜（TEM）：观测纳米级形貌和微观结构。

扫描电子显微镜（SEM）：评估表面形貌和颗粒分布。

热重分析（TGA）：测定热稳定性和组分含量。

比表面积分析（BET）：计算材料的比表面积和孔隙率。

元素分析（EA）：定量检测C/H/O/N等元素含量。

电感耦合等离子体光谱（ICP）：测定金属杂质浓度。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：识别表面官能团种类。

紫外可见分光光度法（UV-Vis）：评估光学吸收特性。

四探针电阻仪：测量材料的导电性能。

动态光散射（DLS）：分析纳米颗粒的粒径分布。

X射线光电子能谱（XPS）：确定表面元素化学态。

原子力显微镜（AFM）：表征表面拓扑结构和厚度。

气相色谱（GC）：检测挥发性有机物残留。

检测仪器

X射线衍射仪, 拉曼光谱仪, 透射电子显微镜, 扫描电子显微镜, 热重分析仪, 比表面积分析仪, 元素分析仪, 电感耦合等离子体光谱仪, 傅里叶变换红外光谱仪, 紫外可见分光光度计, 四探针电阻测试仪, 动态光散射仪, X射线光电子能谱仪, 原子力显微镜, 气相色谱仪

北检院部分仪器展示