二氧化硅-比表面积测定

信息概要

检测项目

比表面积，孔隙体积，孔径分布，吸附等温线，脱附等温线，平均孔径，微孔面积，介孔面积，大孔面积，孔容，堆积密度，振实密度，真密度，颗粒形貌，粒径分布，表面羟基含量，pH值，灼烧减量，吸油值，水分含量

检测范围

气相二氧化硅，沉淀二氧化硅，胶体二氧化硅，纳米二氧化硅，多孔二氧化硅，无定形二氧化硅，球形二氧化硅，疏水二氧化硅，亲水二氧化硅，高纯度二氧化硅，硅胶，硅溶胶，硅微粉，硅藻土，熔融石英，白炭黑，改性二氧化硅，介孔二氧化硅，微米级二氧化硅，工业级二氧化硅

检测方法

BET法：通过氮气吸附测定比表面积，基于Brunauer-Emmett-Teller理论。

BJH法：用于计算介孔材料的孔径分布和孔容。

Langmuir法：适用于单层吸附的比表面积计算。

t-Plot法：区分微孔和外表面积。

DFT法：基于密度泛函理论分析复杂孔隙结构。

压汞法：测定大孔材料的孔径分布。

气体置换法：测量真密度和孔隙率。

激光粒度分析法：确定颗粒粒径分布。

扫描电镜（SEM）：观察颗粒形貌和表面结构。

透射电镜（TEM）：分析纳米级颗粒的微观形貌。

X射线衍射（XRD）：鉴定晶体结构和相纯度。

热重分析（TGA）：测定灼烧减量和水分含量。

红外光谱（FTIR）：分析表面官能团如羟基含量。

pH计：测量二氧化硅分散液的酸碱度。

吸油值测定：评估二氧化硅的吸油能力。

检测仪器

比表面积分析仪，孔隙度分析仪，气体吸附仪，压汞仪，激光粒度分析仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线衍射仪，热重分析仪，傅里叶变换红外光谱仪，pH计，密度计，振实密度仪，水分测定仪，紫外分光光度计

北检院部分仪器展示