纳米银粉-粒径分布测定

信息概要

纳米银粉-粒径分布测定是一项针对纳米级银粉颗粒尺寸及其分布情况的专业检测服务。纳米银粉因其独特的抗菌、导电和光学性能，广泛应用于医疗、电子、化妆品等领域。粒径分布直接影响其物理化学性质和应用效果，因此精准测定粒径分布对产品质量控制、工艺优化及安全性评估至关重要。本检测服务通过先进技术手段，为客户提供准确、可靠的粒径数据，确保产品符合行业标准及法规要求。

检测项目

平均粒径，粒径分布宽度，D10粒径，D50粒径，D90粒径，比表面积，团聚指数，Zeta电位，分散稳定性，形貌分析，结晶度，纯度，金属含量，氧化物含量，有机残留物，密度，孔隙率，流动性，沉降速率，电导率

检测范围

球形纳米银粉，片状纳米银粉，线状纳米银粉，立方体纳米银粉，多孔纳米银粉，包覆型纳米银粉，高纯纳米银粉，抗菌纳米银粉，导电纳米银粉，催化纳米银粉，医用纳米银粉，电子级纳米银粉，涂料用纳米银粉，纺织用纳米银粉，化妆品用纳米银粉，水处理用纳米银粉，食品级纳米银粉，复合材料用纳米银粉，磁性纳米银粉，荧光纳米银粉

检测方法

动态光散射法（DLS）：通过测量颗粒布朗运动引起的散射光波动分析粒径分布。

激光衍射法（LD）：利用激光束照射颗粒后的衍射角度计算粒径。

扫描电子显微镜（SEM）：直接观察颗粒形貌并统计粒径。

透射电子显微镜（TEM）：高分辨率成像测量纳米级颗粒尺寸。

X射线衍射法（XRD）：通过衍射峰宽计算晶粒尺寸。

氮吸附比表面积法（BET）：根据气体吸附量计算比表面积及等效粒径。

离心沉降法：通过沉降速率分析粒径分布。

电泳光散射法：测定Zeta电位评估分散稳定性。

原子力显微镜（AFM）：表面形貌扫描及粒径测量。

紫外-可见分光光度法（UV-Vis）：利用等离子体共振峰位移估算粒径。

库尔特计数器：电感应原理统计颗粒数量及尺寸。

图像分析法：结合显微镜图像软件自动统计粒径。

场流分离法（FFF）：根据流体场分离不同尺寸颗粒。

拉曼光谱法：通过光谱特征分析颗粒尺寸效应。

质谱法（ICP-MS）：检测金属含量及杂质分布。

检测仪器

动态光散射仪，激光粒度分析仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线衍射仪，比表面积分析仪，离心沉降仪，Zeta电位分析仪，原子力显微镜，紫外-可见分光光度计，库尔特计数器，图像分析系统，场流分离系统，拉曼光谱仪，电感耦合等离子体质谱仪

北检院部分仪器展示