厚度偏差,表面平整度,金箔延展性,抗拉强度,光泽度,颜色均匀性,耐腐蚀性,附着力,耐磨性,透光率,密度,硬度,弹性模量,热稳定性,导电性,抗氧化性,化学成分分析,杂质含量,微观结构分析,表面粗糙度
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激光测厚法:采用激光干涉原理非接触测量金箔厚度
电子显微镜法:通过SEM观察金箔表面及断面微观形貌
X射线荧光光谱法:分析金箔元素成分及含量
轮廓仪法:测量金箔表面轮廓计算厚度变化
称重法:通过单位面积质量换算平均厚度
光学干涉法:利用光干涉条纹测量薄膜厚度
超声波测厚法:基于超声波在不同厚度材料中的传播差异
电阻法:通过测量电阻值推算金箔厚度
热阻法:利用热传导特性评估厚度均匀性
电容法:基于电容值与介质厚度的关系进行测量
原子力显微镜法:纳米级精度的表面形貌测量
椭圆偏振法:通过偏振光变化分析薄膜厚度
β射线反向散射法:利用β射线散射强度测定厚度
红外光谱法:通过红外吸收特征分析厚度变化
磁感应法:适用于磁性基材上的金箔厚度测量
激光测厚仪,电子显微镜,X射线荧光光谱仪,表面轮廓仪,精密天平,光学干涉仪,超声波测厚仪,四探针电阻仪,热阻分析仪,电容式测厚仪,原子力显微镜,椭圆偏振仪,β射线测厚仪,傅里叶红外光谱仪,磁感应测厚仪