透明导电膜-方阻测定

信息概要

透明导电膜-方阻测定是一种用于评估透明导电薄膜导电性能的重要检测项目，主要应用于触摸屏、太阳能电池、柔性显示器件等领域。方阻（方块电阻）是衡量薄膜导电性能的关键参数，直接影响产品的性能和可靠性。通过专业检测，可以确保透明导电膜的电学性能符合行业标准和应用需求，为产品质量控制、研发优化及市场准入提供科学依据。

检测项目

方阻值, 表面电阻, 体积电阻, 透光率, 雾度, 厚度均匀性, 表面粗糙度, 附着力, 耐弯折性, 耐湿热性, 耐盐雾性, 耐化学腐蚀性, 耐刮擦性, 耐候性, 导电层成分分析, 导电层厚度, 导电层均匀性, 导电层缺陷检测, 导电层方阻分布, 导电层光学性能

检测范围

ITO导电膜, 银纳米线导电膜, 石墨烯导电膜, 碳纳米管导电膜, 金属网格导电膜, 导电聚合物薄膜, 柔性透明导电膜, 刚性透明导电膜, 复合型透明导电膜, 高透光导电膜, 低方阻导电膜, 抗静电导电膜, 防眩光导电膜, 耐高温导电膜, 耐低温导电膜, 超薄导电膜, 超厚导电膜, 多层结构导电膜, 单层结构导电膜, 图案化导电膜

检测方法

四探针法：通过四探针电阻测试仪测量薄膜的方阻值，适用于均匀导电膜。

范德堡法：用于测量不规则形状或小尺寸样品的电阻率。

透光率测试法：使用分光光度计测量薄膜的透光性能。

雾度测试法：通过雾度计评估薄膜的散射光特性。

表面轮廓仪法：测量薄膜的表面粗糙度和厚度均匀性。

划格法：评估导电层与基材的附着力。

弯折测试法：模拟柔性导电膜在弯折条件下的性能变化。

湿热老化测试：评估薄膜在高温高湿环境下的稳定性。

盐雾测试：检测薄膜在盐雾环境中的耐腐蚀性能。

化学腐蚀测试：评估薄膜在酸碱环境中的耐受性。

刮擦测试：测量薄膜表面的耐刮擦性能。

紫外老化测试：模拟户外环境对薄膜耐候性的影响。

X射线衍射法：分析导电层的晶体结构和成分。

扫描电镜法：观察导电层的表面形貌和微观结构。

能谱分析法：测定导电层的元素组成和分布。

检测仪器

四探针电阻测试仪, 分光光度计, 雾度计, 表面轮廓仪, 划格测试仪, 弯折测试机, 湿热老化箱, 盐雾试验箱, 化学腐蚀测试仪, 刮擦测试仪, 紫外老化试验箱, X射线衍射仪, 扫描电子显微镜, 能谱分析仪, 厚度测量仪

北检院部分仪器展示