超构材料-负折射率测定

信息概要

超构材料-负折射率测定是一种针对具有特殊电磁特性的人工复合材料的检测服务，主要用于验证材料在特定频段内表现出的负折射现象。此类材料在光学、通信、隐身技术等领域具有重要应用价值。检测的重要性在于确保材料的性能符合设计要求，为科研和工业应用提供可靠数据支持。通过精确测定负折射率及相关参数，可以优化材料设计，推动其在新型器件中的实际应用。

检测项目

负折射率, 介电常数, 磁导率, 电磁波透射率, 反射率, 吸收率, 相位延迟, 频散特性, 各向异性, 阻抗匹配, 品质因数, 损耗角正切, 群速度, 相速度, 带宽特性, 温度稳定性, 湿度稳定性, 机械强度, 耐久性, 环境适应性

检测范围

左手材料, 光子晶体, 声子晶体, 电磁超构表面, 太赫兹超构材料, 红外超构材料, 可见光超构材料, 微波超构材料, 可调谐超构材料, 柔性超构材料, 三维超构材料, 二维超构材料, 复合超构材料, 金属基超构材料, 介质基超构材料, 半导体超构材料, 纳米结构超构材料, 生物兼容超构材料, 智能超构材料, 多功能超构材料

检测方法

太赫兹时域光谱法：通过太赫兹脉冲测量材料的电磁响应特性。

矢量网络分析仪法：利用微波频段测量材料的散射参数。

椭偏仪法：通过偏振光的变化测定材料的介电常数和磁导率。

干涉仪法：利用光波干涉测量相位变化和折射率。

远场辐射测量法：通过远场辐射模式分析材料的电磁特性。

近场扫描显微镜法：在近场范围内探测材料的电磁场分布。

傅里叶变换红外光谱法：测量材料在红外波段的吸收和反射特性。

微波谐振腔法：利用谐振腔测量材料的电磁参数。

散射参数提取法：通过S参数反演材料的等效电磁参数。

时域有限差分法：数值模拟材料的电磁行为。

频域有限元法：在频域内模拟材料的电磁特性。

透射电子显微镜法：观察材料的微观结构。

X射线衍射法：分析材料的晶体结构。

拉曼光谱法：研究材料的分子振动特性。

热重分析法：评估材料的热稳定性。

检测仪器

太赫兹时域光谱仪, 矢量网络分析仪, 椭偏仪, 迈克尔逊干涉仪, 远场辐射测量系统, 近场扫描光学显微镜, 傅里叶变换红外光谱仪, 微波谐振腔, 散射参数测试系统, 时域有限差分软件, 频域有限元软件, 透射电子显微镜, X射线衍射仪, 拉曼光谱仪, 热重分析仪

北检院部分仪器展示