量子点-包覆剂荧光量子产率检测

信息概要

量子点-包覆剂荧光量子产率检测是针对纳米材料中量子点与包覆剂复合体系的光学性能进行定量评估的重要检测项目。荧光量子产率是衡量量子点发光效率的关键参数，直接影响其在显示技术、生物成像、太阳能电池等领域的应用性能。通过第三方检测机构的专业服务，可以准确评估产品的光学特性、稳定性及一致性，为研发优化、质量控制及市场准入提供科学依据。该检测对于确保量子点材料的性能可靠性、应用安全性及商业化潜力具有重要意义。

检测项目

荧光量子产率，激发光谱，发射光谱，斯托克斯位移，荧光寿命，吸收光谱，荧光峰半高宽，荧光稳定性，温度依赖性，pH依赖性，溶剂效应，包覆剂厚度，量子点尺寸分布，表面官能团分析，荧光淬灭率，光漂白性，量子点浓度，包覆剂覆盖率，荧光各向异性，荧光再吸收效应

检测范围

CdSe量子点，CdTe量子点，InP量子点，PbS量子点，ZnS量子点，钙钛矿量子点，碳量子点，硅量子点，石墨烯量子点，核壳结构量子点，聚合物包覆量子点，二氧化硅包覆量子点，氨基功能化量子点，羧基功能化量子点，巯基包覆量子点，磷脂包覆量子点，蛋白质包覆量子点，DNA修饰量子点， PEG化量子点，磁性量子点

检测方法

积分球光谱法：通过积分球收集全空间荧光信号，结合标准光源校准计算量子产率。

相对荧光法：以已知量子产率的荧光物质为参比，对比样品与参比的荧光强度。

时间分辨荧光光谱：测量荧光衰减曲线，分析荧光寿命及非辐射跃迁过程。

紫外-可见吸收光谱：测定样品在紫外-可见光区的吸收特性，计算光学带隙。

荧光分光光度法：使用荧光分光光度计记录样品的激发和发射光谱。

动态光散射：分析量子点-包覆剂复合物的流体力学直径及分散稳定性。

透射电子显微镜：观察量子点形貌、尺寸及包覆剂分布状态。

X射线衍射：确定量子点晶体结构及包覆剂对晶格的影响。

傅里叶变换红外光谱：表征包覆剂与量子点表面的化学键合方式。

热重分析：评估包覆剂的热稳定性及包覆含量。

Zeta电位测试：测定表面电荷以分析包覆剂修饰效果。

荧光相关光谱：通过荧光涨落分析量子点浓度及聚集状态。

原子力显微镜：高分辨率表征量子点-包覆剂表面形貌。

X射线光电子能谱：分析表面元素组成及化学状态。

荧光显微镜成像：直观观察量子点在宏观尺度的荧光分布均匀性。

检测仪器

荧光分光光度计，积分球光谱系统，时间相关单光子计数仪，紫外-可见分光光度计，动态光散射仪，透射电子显微镜，X射线衍射仪，傅里叶变换红外光谱仪，热重分析仪，Zeta电位分析仪，荧光相关光谱仪，原子力显微镜，X射线光电子能谱仪，荧光显微镜，高效液相色谱仪

北检院部分仪器展示