低辐射玻璃-镀膜导电性检测

信息概要

低辐射玻璃（Low-E玻璃）是一种通过在玻璃表面镀制特殊膜层来降低热辐射传递的高性能玻璃，广泛应用于建筑节能领域。镀膜导电性是衡量其性能的关键指标之一，直接影响玻璃的隔热、透光及电磁屏蔽效果。第三方检测机构提供专业的低辐射玻璃-镀膜导电性检测服务，确保产品符合国际标准（如ISO 9050、EN 1096等）及行业规范，帮助厂商优化生产工艺，保障终端用户的产品质量与安全。检测可覆盖膜层均匀性、导电稳定性、耐久性等核心参数，为建筑节能设计、幕墙工程及特种玻璃应用提供数据支持。

检测项目

表面电阻率, 方块电阻, 导电膜层厚度, 可见光透射比, 太阳能总透射比, 紫外线透射比, 红外线反射率, 辐射率, 膜层均匀性, 耐磨性, 耐酸碱性, 耐盐雾性, 附着力, 硬度, 光学畸变, 颜色均匀性, 导电膜层方阻温度系数, 电磁屏蔽效能, 热稳定性, 湿热循环性能

检测范围

单银Low-E玻璃, 双银Low-E玻璃, 三银Low-E玻璃, 阳光控制Low-E玻璃, 高透型Low-E玻璃, 遮阳型Low-E玻璃, 中空Low-E玻璃, 真空Low-E玻璃, 夹层Low-E玻璃, 镀膜钢化Low-E玻璃, 镀膜夹胶Low-E玻璃, 可钢化Low-E玻璃, 弯钢Low-E玻璃, 彩釉Low-E玻璃, 超白Low-E玻璃, 光伏一体化Low-E玻璃, 电加热Low-E玻璃, 自清洁Low-E玻璃, 抗菌Low-E玻璃, 防火Low-E玻璃

检测方法

四探针法：通过四探针电阻测试仪测量膜层方块电阻，评估导电性能。

分光光度法：利用紫外-可见-近红外分光光度计测定透射率、反射率等光学参数。

扫描电子显微镜（SEM）：观察膜层微观形貌及厚度。

X射线衍射（XRD）：分析膜层晶体结构及成分。

划格法：依据ASTM D3359标准测试膜层附着力。

摩擦试验：用泰伯尔耐磨仪评估膜层耐磨性。

盐雾试验：模拟海洋环境检测膜层耐腐蚀性。

湿热循环试验：通过温湿度交替变化测试膜层稳定性。

霍尔效应测试：测定载流子浓度和迁移率。

椭偏仪法：精确测量膜层光学常数与厚度。

红外热像仪：评估玻璃辐射率及隔热性能。

电磁屏蔽测试：依据IEEE STD-299测量电磁屏蔽效能。

激光导热仪：测定膜层热导率。

原子力显微镜（AFM）：分析膜层表面粗糙度。

电化学阻抗谱（EIS）：研究膜层在电解质中的耐蚀行为。

检测仪器

四探针电阻测试仪, 紫外-可见-近红外分光光度计, 扫描电子显微镜, X射线衍射仪, 划格测试仪, 泰伯尔耐磨仪, 盐雾试验箱, 恒温恒湿试验箱, 霍尔效应测试系统, 椭偏仪, 红外热像仪, 电磁屏蔽测试系统, 激光导热仪, 原子力显微镜, 电化学工作站

北检院部分仪器展示