标准号: GB/T 14849.4-2008
标准名称: 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
英文名称:Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准状态:被代替
发布日期: 2008-06-09
实施日期: 2008-12-01
出版语种:中文简体
替代标准:暂无
引用标准:
提出部门:中国有色金属工业协会
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会