锗检测标准

锗检测标准相关信息

GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H17 发布：2022-12-30 实施：2023-04-01

GB 29413-2012 锗单位产品能源消耗限额
简介：本标准规定了锗单位产品能源消耗（以下简称能耗）限额的技术要求、统计范围、计算方法、计算范围、节能管理与节能措施。本标准适用于所有以含锗褐煤、煤渣（灰）、含锗铅锌矿生产锗精矿，再以锗精矿、锗废料为原料生产区熔锗锭的锗单位产品能耗的计算、考核，以及对新建项目的能耗控制。
信息：ICS：27.010 CCS：F01 发布：2012-12-31 实施：2013-10-01

GB/T 20127.6-2006 钢铁及合金.痕量元素的测定.第6部分:没食子酸-示波极谱法测定锗含量
简介： 本部分规定了用没食子酸-示波极谱法测定高温合金中的锗含量。 本方法适用于高温合金中质量分数为0.00005%～0.010%的锗的测定。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H11 发布：2006-03-02 实施：2006-09-01

GB/T 14352.24-2022 钨矿石、钼矿石化学分析方法 第24部分：锗含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
简介：
信息：ICS：73.060 CCS：D46 发布：2022-12-30 实施：2023-04-01

GB/T 8151.13-2012 锌精矿化学分析方法 第13部分：锗量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法和苯芴酮分光光度法
简介：GB/T 8151的本部分规定了锌精矿中锗量的测定方法、本部分适用于锌精矿中锗量的测定、方法1澳定范围:0.000 50%~0.10%;方法2测定范围:0.000 50%~0.10%、
信息：ICS：77.120.60 CCS：H13 发布：2012-12-31 实施：2013-10-01

GB/T 5009.127-2003 食品包装用聚酯树脂及其成型品中锗的测定
简介： 本标准规定了经四氯化碳萃取、苯芴酮络合分光光度法测定锗。 本标准适用于食品包装用聚酯树脂及其成型品中锗的测定。 本方法的检出限为0.020μg/mL。
信息：ICS：67.040 CCS：C53 发布：2003-08-11 实施：2004-01-01

GB 29447-2022 多晶硅和锗单位产品能源消耗限额
简介：
信息：ICS：27.010 CCS：F01 发布：2022-12-29 实施：2024-01-01

GB/T 26292-2010 金锗蒸发料
简介：本标准规定了金锗蒸发材料的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮运及质量证明书与订货单（或合同）内容。本标准适用于各种方法生产的金锗蒸发材料，该产品主要用于分立器件、发光二极管制造等行业。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H68 发布：2011-01-14 实施：2011-11-01

GB/T 5009.151-2003 食品中锗的测定
简介： 本方法规定了采用氢化物发生原子荧光光谱分析技术测定锗的分析方法。 本方法适用于各类食品中锗的测定及保健饮品中锗-132和无机锗的分别测定。 本方法检出限为3.5 ng/mL；标准曲线线性范围为0ng/mL～100ng/mL。测定试样中总锗时，方法回收率为84.0％～93.2%。测定保健饮品中锗-132和无机锗时，方法回收率为94.6％～103.4％。
信息：ICS：67.040 CCS：C53 发布：2003-08-11 实施：2004-01-01

GB/T 40291-2021 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
简介：
信息：ICS：27.120 CCS：F88 发布：2021-05-21 00:00:00.0 实施：2021-12-01 00:00:00.0

GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
简介：本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片的电阻率。测量范围为1×10Ω•cm～1×10Ω•cm。
信息：ICS：77.040.99 CCS：H17 发布：2011-01-10 实施：2011-10-01

GB/T 8151.13-2000 锌精矿化学分析方法 锗量的测定
简介： 本标准规定了锌精矿中锗含量的测定方法。 本标准适用于锌精矿中锗含量的测定，测定范围0.000 5%~0.10%。
信息：ICS：73.060 CCS：D42 发布：2000-02-16 实施：2000-08-01

GB/T 39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
简介：
信息：ICS：07.030 CCS：Q65 发布：2021-03-09 00:00:00.0 实施：2021-10-01 00:00:00.0

GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
简介：本标准规定了太阳能电池用锗单晶棒的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单内容。本标准适用于垂直梯度凝固法（VGF）和直拉法（CZ）制备的太阳能电池用锗单晶滚圆棒.
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：2011-01-10 实施：2011-10-01

GB/T 17337-1998 食品中锗的测定
简介：本标准规定了采用氢化物发生原子荧光光谱分析技术测定锗的分析方法。本标准适用于各类食品中锗的测定及保健饮品中锗-132和无机锗的分别测定。
信息：ICS： CCS： 发布：1998-04-20 实施：1999-01-01

GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H21 发布：2020-06-02 00:00:00.0 实施：2021-05-01 00:00:00.0

GB/T 14352.15-2010 钨矿石、钼矿石化学分析方法 第15部分：锗量测定
简介：警告：使用本部分的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。GB/T 14352的本部分规定了钨矿石、钼矿石中锗量的测定方法。本部分适用于钨矿石、钼矿石中锗量的测定。测定范围：1μg/g～200μg/g的锗。
信息：ICS：73.060 CCS：D40 发布：2010-11-10 实施：2011-02-01

GB/T 17036-1997 铀矿地质样品中锗的测定 水杨基萤光酮分光光度法
简介： 本标准规定了铀矿地质样品中锗的测定方法。 本标准适用于铀矿地质样品中锗的测定，也适用于其他地质物料中锗的测定。测定范围：0.5～2500μg/g。
信息：ICS：27.120.30 CCS：F46 发布：1997-10-14 实施：1998-04-01

GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
简介：
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：2019-06-04 00:00:00.0 实施：2020-05-01 00:00:00.0

GB/T 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
简介：本标准规定了锗单晶和锗单晶片的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、订货单内容。本标准适用于制作半导体器件、激光、外延衬底等用的锗单晶和锗单晶片。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H66 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01

GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
简介： 本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。
信息：ICS：77.040.01 CCS：H21 发布：1997-06-03 实施：1997-12-01

GB/T 37211.2-2018 金属锗化学分析方法 第2部分：铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H17 发布：2018-12-28 00:00:00.0 实施：2019-11-01 00:00:00.0

GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
简介：本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测定方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。本标准为脉冲光方法。这种方法不破坏试样的内在特性，试样可以重复测试，但要求试样具有特殊的条形尺寸和淹没的表面，见表1。本标准可测的最低寿命值为10μs，取决于光源的余辉。不适用于抛光片的验收测试。
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01

GB/T 7167-1996 锗γ射线探测器测试方法
简介： 本标准规定了锗γ射线探测器分类、性能测试方法和温度循环能力等。 本标准适用于高纯锗和锗（锂）γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗低能光子探测器的主要性能测试。
信息：ICS：17.240 CCS：F80 发布：1996-11-06 实施：1997-08-01

GB/T 11071-2018 区熔锗锭
简介：
信息：ICS：77.150 CCS：H66 发布：2018-12-28 00:00:00.0 实施：2019-07-01 00:00:00.0

GB/T 23513.1-2009 锗精矿化学分析方法.第1部分:锗量的测定.碘酸钾滴定法
简介：GB/T 23513的本部分规定了锗精矿中锗含量的测定方法。本部分适用于锗精矿中锗含量的测定。测定范围：1.0%~70%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：D43;H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 15713-1995 锗单晶片
简介： 本标准规定了锗单晶切割片、研磨片和腐蚀片（简称锗片）的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于各种牌号的锗单晶经切割、双面研磨、分割、腐蚀制备的圆形、方形和长方形锗片。产品用于制作晶体管和红外器件。
信息：ICS：29.045 CCS：H81 发布：1995-10-17 实施：1996-03-01

GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱
简介：
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2018-12-28 00:00:00.0 实施：2019-07-01 00:00:00.0

GB/T 23513.5-2009 锗精矿化学分析方法.第5部分:二氧化硅量的测定.重量法
简介：GB/T 23513的本部分规定了锗精矿中二氧化硅含量的测定方法。本部分适用于锗精矿中二氧化硅含量的测定。测定范围：0.5%~60%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：D43;H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 5238-1995 锗单晶
简介： 本标准规定了锗单晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于制作半导体器件等用的锗单晶。
信息：ICS：29.040.30 CCS：H81 发布：1995-10-17 实施：1996-03-01

GB/T 37211.1-2018 金属锗化学分析方法 第1部分：砷含量的测定 砷斑法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H17 发布：2018-12-28 00:00:00.0 实施：2019-11-01 00:00:00.0

GB/T 23522-2009 再生锗原料
简介：本标准规定了再生锗原料的质量要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及订货单（或合同）内容等。本标准适用于从锗的生产、加工、使用过程中产生的可回收的再生锗原料，作为生产四氯化锗的原料。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
简介： 本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。 本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。测量范围：硅单晶为10～10Ω·cm,锗单晶为5×10～10Ω·cm。试样长度与截面最大尺寸之比应不小于3：1
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1995-04-18 实施：1995-12-01

GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
简介：
信息：ICS：29.045 CCS：H83 发布：2017-12-29 00:00:00.0 实施：2018-07-01 00:00:00.0

GB/T 23513.2-2009 锗精矿化学分析方法.第2部分:砷量的测定.硫酸亚铁铵滴定法
简介：GB/T 23513的本部分规定了锗精矿中砷含量的测定方法。本部分适用于锗精矿中砷含量的测定。测定范围：0.2%~20%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：D43;H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
简介： 本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于控针间距的4倍的硅、锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于控针间距4倍的硅、锗单晶圆片（简称圆片）的电阻率。测量范围为硅：1×10～3×10Ω·cm，锗：1×10、1×10Ω·cm。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1995-04-18 实施：1995-12-01

GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H25 发布：2017-10-14 00:00:00.0 实施：2018-07-01 00:00:00.0

GB/T 23513.4-2009 锗精矿化学分析方法.第4部分:氟量的测定.离子选择电极法
简介：GB/T 23513的本部分规定了锗精矿中氟含量的测定方法。本部分适用于锗精矿中氟含量的测定。测定范围：0.01%~1.0%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：D43;H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 15205-1994 食品包装用聚酯树脂及其成型品中锗的测定方法
简介：本标准规定了经四氯化碳萃取，苯芴酮络合分光光度法测定锗。本标准适用于食品包装用聚酯树脂及其成型品中锗的测定。
信息：ICS： CCS： 发布：1994-08-10 实施：1994-08-10

GB/T 11070-2017 还原锗锭
简介：
信息：ICS：77.150 CCS：H66 发布：2017-10-14 00:00:00.0 实施：2018-05-01 00:00:00.0

GB/T 23513.3-2009 锗精矿化学分析方法.第3部分:硫量的测定.硫酸钡重量法
简介：GB/T 23513的本部分规定了锗精矿中硫含量的测定方法。本部分适用于锗精矿中硫含量的测定。测定范围：0.5%~10%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：D43;H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 14353.14-1993 铜矿石、铅矿石和锌矿石化学分析方法 四氯化碳萃取分离,溴化十六烷基三甲胺-苯芴酮光度法测定锗量
简介： 本标准规定了铜矿石、铅矿石、锌矿石中锗含量的测定方法。 本标准适用于铜矿石、铅矿石、锌矿石中锗含量的测定，测定范围：0.5～100μg/g。
信息：ICS：73.060 CCS：D42 发布：1993-05-12 实施：1994-02-01

GB/T 11713-2015 高纯锗γ能谱分析通用方法（GBT 11713-2015）
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2015-6-2 实施：2016-1-1

GB/T 23523-2009 再生锗原料中锗的测定方法
简介：本标准规定了再生锗原料中锗的测定方法。本标准适用于再生锗原料中锗的测定。测定范围：1%~99%。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H66 发布：2009-04-08 实施：2010-02-01

GB/T 14352.15-1993 钨矿石、钼矿石化学分析方法 蒸馏分离,溴化十六烷基三甲胺-苯芴酮光度法测定锗量
简介： 本标准规定了钨矿石、钼矿石中锗含量的测定方法。 本标准适用于钨矿石、钼矿石中锗含量的测定，测定范围1～200μg/g。
信息：ICS：73.060 CCS：D42 发布：1993-05-12 实施：1994-02-01

GB/T 31987-2015 电子工业用气体 锗烷
简介：本标准规定了锗烷的技术要求、试验方法、标志、包装、贮运和安全。本标准适用于氯化锗还原、电解氧化锗的硫酸溶液、锗镁合金与盐酸反应等方法得到的锗烷产品。它用于化学试剂、制取高纯度锗、化学气相淀积、扩散、非晶硅、外延、离子注入等领域。分子式：GeH。相对分子质量：76.662（按2011年国际相对原子质量计算）。
信息：ICS：71.100.20 CCS：G86 发布：2015-09-11 实施：2016-05-01

GB/T 7167-2008 锗γ射线探测器测试方法
简介：本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗X射线探测器和锗（锂）探测器的性能测试。
信息：ICS：27.120 CCS：F80;F88 发布：2008-07-02 实施：2009-04-01

GB/T 11071-1989 区熔锗锭
简介： 本标准规定了区熔锗锭的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则等。 本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为原料，经区熔提纯而制得的锗锭。产品供制备半导体锗单晶、光学用锗晶体和锗合金等用。
信息：ICS：77.120.70 CCS：H81 发布：1989-03-31 实施：1990-02-01

GB/T 11713-2015 高纯锗γ能谱分析通用方法
简介：本标准规定了使用高纯锗(HPGe)7能谱仪分析样品中7放射性核素的通用方法。本标准适用于在实验室测量分析γ射线能量大于40 keV且特征谱线能够分辨开的γ放射性核素。
信息：ICS：13.280 CCS：C57 发布：2015-06-02 实施：2016-01-01

GB/T 8207-2007 煤中锗的测定方法
简介：本标准规定了煤中锗的蒸馏分离一苯芴酮分光光度法和萃取分离一苯芴酮分光光度法的方法提要、试剂材料、仪器设备、试验步骤、结果表述和方法精密度等。在仲裁分析时，应采用蒸馏分离一苯芴酮比色法。本标准适用于褐煤、烟煤和无烟煤。测量范围为（1～200）μg/g。
信息：ICS：73.040 CCS：D21 发布：2007-11-01 实施：2008-06-01

GB/T 11070-1989 还原锗锭
简介： 本标准规定了还原锗锭的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则等。 本标准适用于以二氧化锗为原料，经氢还原法制备的锗锭。产品主要用于制备区熔锗锭。
信息：ICS：77.120.70 CCS：H81 发布：1989-03-31 实施：1990-02-01

GB/T 14353.14-2014 铜矿石、铅矿石和锌矿石化学分析方法 第14部分:锗量测定
简介：GB/T 14353的本部分规定了铜矿石、铅矿石和锌矿石中原子荧光光谱法测定锗量。本部分适用于铜矿石、铅矿石和锌矿石中锗量的原子荧光光谱法测定。测定范围:0.060 μg/g~100 μg/g的锗。方法检出限:锗0.021 μg/g。
信息：ICS：73.060 CCS：D40 发布：2014-12-05 实施：2015-04-01

GB/T 11070-2006 还原锗锭
简介： 本标准规定了还原锗锭的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、订货单（或合同）。 本标准适用于以高纯二氧化锗为原料，经氢还原法制备的锗锭。产品主要用于制备区熔锗锭。
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：2006-07-18 实施：2006-11-01

GB/T 9532-1988 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法
简介： 本标准适用于声表面波和体波器件用铌酸锂、钽酸锂、锗酸鉍、硅酸鉍等单晶材料的型号命名。
信息：ICS：31.020 CCS：L32 发布：1988-06-28 实施：1989-02-01

GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
简介：本标准规定了太阳能电池用锗衬底片的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。本标准适用于垂直梯度凝固法(VGF)和直拉法(CZ)制备的太阳能电池用锗衬底片(以下简称锗衬底片)。
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：2014-07-24 实施：2015-04-01

GB/T 11071-2006 区熔锗锭
简介： 本标准规定了区熔锗锭的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、储存等。 本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为原料，经区熔提纯而制得的高纯锗锭。ZGe-0区熔锗锭主要用于制备探测器用高纯单晶，ZGe-1区熔锗锭主要用于制备半导体单晶、红外光学锗单晶、锗合金等。
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：2006-07-18 实施：2006-11-01

GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
简介： 本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工工艺过程中所产生的各类缺陷的形貌。 本标准适用于锗多晶、锗单晶、锗研磨片和抛光镜片的生产和研究。锗二极管、晶体管和红外窗口的制造亦可参照使用。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H24 发布：1988-02-25 实施：1989-02-01

GB/T 30151-2013 高纯锗γ谱仪本底谱的特性
简介：本标准规定了用高纯锗探测器构成的7谱仪中本底谱的特性。本标准适用于由高纯锗探测器构成的7谱仪采集的本底谱,特别是低本底探测器采集的本底谱。本标准不涉及降低本底的方法。
信息：ICS：27.120 CCS：F81 发布：2013-12-17 实施：2014-08-01

GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
简介： 本标准适用于位错密度0cm～100000cm的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。
信息：ICS：77.040.01 CCS：H17 发布：2006-07-18 实施：2006-11-01

GB/T 8207-1987 煤中锗的测定方法
简介： 本标准适用于褐煤、烟煤、无烟煤中锗的测定。
信息：ICS：73.040 CCS：D22 发布：1987-09-17 实施：1988-07-01

北检院部分仪器展示