机构简介
北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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检测标准

环氧树脂分子类型检测标准

发布时间：2025-02-14 04:09:35 点击数：
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QJ 1870-1990

环氧树脂分子量及其分布测试方法(GPC法)

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】1990-01-20
  • 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
  • 【ICS分类】

SAE AMS3822A

Cloth, Type \

Cloth, Type \

  • 【发布单位或类别】 US-SAE美国机动车工程师协会
  • 【发布日期】1996-06-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

SAE AMS3822

Cloth, Type \

Cloth, Type \

  • 【发布单位或类别】 US-SAE美国机动车工程师协会
  • 【发布日期】1983-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-PRF-19500/717 Notice 3-Validation 3

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, BIDIRECTIONAL TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR, TYPES 1N6036AUEG THROUGH 1N6072AUEG, 1N6036AUEJ THROUGH 1N6072AUEJ, JAN, JANTX, AND JANTXV

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, BIDIRECTIONAL TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR, TYPES 1N6036AUEG THROUGH 1N6072AUEG, 1N6036AUEJ THROUGH 1N6072AUEJ, JAN, JANTX, AND JANTXV

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2020-02-26
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-PRF-19500/717

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, BIDIRECTIONAL TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR, TYPES 1N6036AUEG THROUGH 1N6072AUEG, 1N6036AUEJ THROUGH 1N6072AUEJ, JAN, JANTX, AND JANTXV

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, BIDIRECTIONAL TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR, TYPES 1N6036AUEG THROUGH 1N6072AUEG, 1N6036AUEJ THROUGH 1N6072AUEJ, JAN, JANTX, AND JANTXV

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2005-05-09
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-R-87978

REMOVER, PAINT, EPOXY AND POLYURETHANE SYSTEMS, TANK TYPE: AMBIENT TEMPERATURE, FOR AIRCRAFT WHEELS AND LANDING GEAR COMPONENTS (S/S BY MIL-PRF-87978A)

REMOVER, PAINT, EPOXY AND POLYURETHANE SYSTEMS, TANK TYPE: AMBIENT TEMPERATURE, FOR AIRCRAFT WHEELS AND LANDING GEAR COMPONENTS (S/S BY MIL-PRF-87978A)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1987-08-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-PRF-19500/716 Notice 3-Validation 3

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, UNIPOLAR TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR TYPES 1N5555UEG THROUGH 1N5558UEG, 1N5555UEJ THROUGH 1N5558UEJ, 1N5629AUEG THROUGH 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ THROUGH 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, UNIPOLAR TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR TYPES 1N5555UEG THROUGH 1N5558UEG, 1N5555UEJ THROUGH 1N5558UEJ, 1N5629AUEG THROUGH 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ THROUGH 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2020-02-26
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-PRF-19500/716 Notice 2-Validation 2

Semiconductor Device, Diode, Non-Hermetic, Epoxy, Surface Mount, Silicon, Unipolar Transient Voltage Suppressor Types 1N5555UEG through 1N5558UEG, 1N5555UEJ through 1N5558UEJ, 1N5629AUEG through 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ through 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907UEJ JAN, JANTX, and JANTXV

Semiconductor Device, Diode, Non-Hermetic, Epoxy, Surface Mount, Silicon, Unipolar Transient Voltage Suppressor Types 1N5555UEG through 1N5558UEG, 1N5555UEJ through 1N5558UEJ, 1N5629AUEG through 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ through 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907UEJ JAN, JANTX, and JANTXV

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2015-03-18
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL MIL-PRF-19500/716

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, UNIPOLAR TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR TYPES 1N5555UEG THROUGH 1N5558UEG, 1N5555UEJ THROUGH 1N5558UEJ, 1N5629AUEG THROUGH 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ THROUGH 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, NON-HERMETIC, EPOXY, SURFACE MOUNT, SILICON, UNIPOLAR TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR TYPES 1N5555UEG THROUGH 1N5558UEG, 1N5555UEJ THROUGH 1N5558UEJ, 1N5629AUEG THROUGH 1N5665AUEG, 1N5629AUEJ THROUGH 1N5665AUEJ, 1N5907UEG, 1N5907

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2005-04-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

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