X射线衍射分析

信息概要

X射线衍射分析是一种通过材料对X射线的衍射效应来研究其晶体结构、物相组成及微观形貌的非破坏性检测技术，广泛应用于材料科学、制药、地质、电子及化工等领域。第三方检测机构通过专业设备与标准化流程，为客户提供精准的晶体结构解析、残余应力分析、物相定量/定性检测等服务。此类检测对产品质量控制、研发优化、工艺改进及合规认证具有关键作用，尤其在材料性能评估、失效分析及知识产权保护中不可或缺。

检测项目

晶体结构分析，晶粒尺寸计算，残余应力测定，物相定量分析，择优取向度评估，晶格常数测定，结晶度检测，微观应变分析，薄膜厚度测量，多晶型鉴别，织构分析，缺陷密度评估，相变温度测定，元素分布图谱，热膨胀系数分析，涂层结合强度，纳米颗粒分散性，非晶态含量，晶体生长动力学参数，材料老化程度表征。

检测范围

金属合金，陶瓷材料，矿物矿石，聚合物复合材料，药品原料，半导体材料，催化剂，水泥制品，电池电极材料，纳米粉末，玻璃制品，磁性材料，薄膜涂层，地质标本，化石样本，环境粉尘，电子元件，催化剂载体，生物晶体，考古文物。

检测方法

粉末衍射法：通过多晶样品衍射图谱解析物相组成。

薄膜掠入射法：分析纳米薄膜的厚度与界面结构。

高温原位衍射：监测材料在变温条件下的结构演变。

残余应力扫描：利用sin²ψ法计算表面应力分布。

小角X射线散射：测定纳米尺度有序结构参数。

全谱拟合精修：基于Rietveld法优化晶体结构模型。

极图测定法：量化材料的结晶织构特征。

同步辐射衍射：利用高亮度光源进行微区结构分析。

透射模式衍射：适用于超薄或低吸收样品测试。

快速相变追踪：毫秒级时间分辨动态结构捕获。

三维断层扫描：重构材料内部晶体取向分布。

微聚焦衍射：实现50μm以下区域的局部结构表征。

应力梯度分析：通过多层衍射角偏移计算梯度场。

原位加载测试：监测力学载荷下的结构响应。

定量相分析：基于参考强度比法计算各相比例。

检测仪器

多晶X射线衍射仪，单晶衍射仪，微区衍射仪，同步辐射光源，高温附件系统，应力分析模块，二维探测器，旋转阳极发生器，毛细管光学系统，低温样品台，薄膜分析附件，原位反应腔，小角散射装置，能谱探测器，三维成像工作站。

北检院部分仪器展示