表面粗糙度(Sa, Sq, Sz),轮廓高度偏差,台阶高度测量,曲率半径,平面度,波纹度,微观形貌三维重构,斜率分析,局部缺陷检测,膜厚均匀性,沟槽深度与宽度,接触角间接计算,功率谱密度分析,表面结构周期性,磨损量评估,涂层附着力间接表征,形变应力分布,纳米级划痕检测,光洁度等级评定,微观孔隙率统计
光学透镜,半导体晶圆,微机电系统(MEMS),精密模具,金属抛光件,陶瓷基板,薄膜涂层,光纤端面,蓝宝石窗口片,医疗植入体表面,液晶面板,3D打印部件,金刚石刀具刃口,太阳能电池板,汽车发动机缸体,航空航天涡轮叶片,微型传感器芯片,磁头滑轨,硬磁盘基片,光子晶体结构
白光干涉法:利用干涉条纹相位变化还原表面高度信息,适用于高反射率样品。
共焦显微法:通过轴向扫描检测聚焦光强信号,实现透明/多层材料测量。
相移干涉术:多步相位调制提升垂直分辨率至亚纳米级。
条纹投影法:投射结构化光栅快速获取大范围形貌。
激光三角测量:基于光斑位移计算表面起伏,适合动态在线检测。
数字全息术:记录并重建物光波前,实现无透镜三维成像。
偏振敏感检测:分析材料各向异性对光学特性的影响。
频域分析:通过空间频率分解量化表面周期性结构。
多区域拼合扫描:扩展单次测量视野限制。
环境振动补偿:主动降噪技术提升实验室级测量稳定性。
高温原位测量:搭配温控腔体观测热变形过程。
纳米压痕同步检测:结合力学性能测试分析形变机制。
动态运动捕捉:高速采样记录表面瞬态变化。
化学腐蚀监测:实时跟踪表面蚀刻演变过程。
多光谱融合分析:集成不同波段光学信息增强特征识别。
白光干涉轮廓仪,激光共焦扫描显微镜,相移干涉测量系统,数字全息显微镜,结构光三维扫描仪,激光三角位移传感器,原子力显微镜(AFM),扫描电子显微镜(SEM),椭偏仪,表面粗糙度测试仪,纳米压痕仪,高光谱成像系统,红外热像仪,X射线衍射仪(XRD),聚焦离子束(FIB)系统