介电常数(实部与虚部), 介质损耗角正切值, 介电弛豫时间, 电导率, 阻抗谱特性, 频率依赖性分析, 温度依赖性分析, 极化强度, 击穿场强, 表面电阻率, 体积电阻率, 介电强度, 电容值变化率, 损耗因子, 介电温谱特性, 介电频散特性, 介电各向异性, 电场响应曲线, 介电薄膜均匀性, 介电老化性能
高分子聚合物, 陶瓷材料, 半导体材料, 绝缘涂层, 液晶材料, 复合材料, 纳米材料, 橡胶制品, 薄膜电容器, 印刷电路板基材, 电池隔膜, 封装材料, 压电材料, 铁电材料, 电磁屏蔽材料, 微波介质材料, 生物相容性材料, 光学薄膜, 电缆绝缘层, 储能介质材料
频域分析法(通过扫描不同频率下的介电响应), 时域反射法(利用脉冲信号测量介电特性), 谐振腔法(基于微波谐振频率偏移计算介电参数), 平行板电极法(使用平板电极测量材料电容), 同轴探针法(适用于高频段介电测试), 阻抗分析仪法(结合阻抗谱分析介电行为), 温度扫描法(研究介电性能随温度变化规律), 宽频介电谱仪法(覆盖超低频至太赫兹范围), 介电温湿联合测试法(模拟不同环境条件), 极化-去极化电流法(评估材料电荷存储与释放特性), 微波网络分析法(用于高频介质参数测量), 交流电桥法(精确测量介电损耗), 太赫兹时域光谱法(分析材料在太赫兹波段的介电响应), 介电击穿测试法(测定材料耐高压能力), 介电弛豫谱分析(研究分子运动与极化机制)
阻抗分析仪, 矢量网络分析仪, 介电谱仪, 高精度LCR表, 太赫兹时域光谱仪, 谐振腔测试系统, 平行板电容测试夹具, 同轴探针测试台, 温度控制腔体, 高频信号发生器, 示波器, 精密恒温箱, 介电击穿测试仪, 极化电流测试装置, 微波网络分析仪