纳米尺寸检测

信息概要

纳米尺寸检测是通过精密技术手段对材料的纳米级尺寸、形貌及结构进行定量分析的服务。该检测广泛应用于半导体、生物医药、新能源等领域，确保产品性能与质量符合设计和应用要求。检测的重要性在于精准控制纳米材料的物理化学特性，直接影响产品功能稳定性、安全性和商业化潜力。通过第三方检测机构的专业服务，客户可获取客观数据支持研发优化、生产监控及法规认证，降低技术风险并提升市场竞争力。

检测项目

粒径分布, 表面粗糙度, 比表面积, 孔隙率, 晶体结构, 纳米颗粒形貌, 分散均匀性, 薄膜厚度, 层间间距, 纳米管直径, 纳米线长度, 团聚状态, 表面电荷, 元素组成, 缺陷密度, 光学特性, 力学性能, 热稳定性, 磁学参数, 化学官能团分析

检测范围

纳米颗粒, 纳米线, 纳米薄膜, 量子点, 纳米复合材料, 碳纳米管, 纳米涂层, 金属纳米材料, 氧化物纳米材料, 聚合物纳米粒子, 生物纳米载体, 纳米纤维, 纳米多孔材料, 纳米催化剂, 纳米传感器, 纳米药物制剂, 石墨烯材料, 纳米陶瓷, 纳米合金, 纳米电子器件

检测方法

扫描电子显微镜（SEM）：通过电子束扫描样品表面，获取高分辨率形貌图像。

透射电子显微镜（TEM）：利用电子穿透样品成像，分析内部结构和晶体信息。

原子力显微镜（AFM）：通过探针与表面作用力，测量三维形貌及力学性质。

动态光散射（DLS）：基于光散射原理测定纳米颗粒的粒径分布和分散状态。

X射线衍射（XRD）：分析材料的晶体结构及晶格参数。

比表面积分析（BET）：通过气体吸附法计算材料的比表面积和孔隙率。

拉曼光谱：检测分子振动模式以鉴定化学成分及结构缺陷。

紫外-可见分光光度计（UV-Vis）：测量纳米材料的光吸收和散射特性。

热重分析（TGA）：评估材料热稳定性及成分变化。

Zeta电位分析：测定纳米颗粒表面电荷及分散体系稳定性。

X射线光电子能谱（XPS）：分析表面元素组成及化学态。

粒度分析仪：结合激光衍射技术快速统计粒径分布。

场发射扫描电镜（FESEM）：高分辨率SEM变体，适于超细纳米结构表征。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：识别材料表面官能团及化学键信息。

纳米压痕仪：量化纳米尺度材料的硬度与弹性模量。

检测仪器

扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, 原子力显微镜, 动态光散射仪, X射线衍射仪, 比表面积分析仪, 拉曼光谱仪, 紫外-可见分光光度计, 热重分析仪, Zeta电位分析仪, X射线光电子能谱仪, 激光粒度分析仪, 场发射扫描电镜, 傅里叶变换红外光谱仪, 纳米压痕仪

北检院部分仪器展示