铁电存储器检测

信息概要

检测项目

耐久性测试，数据保持能力，读写速度，极化特性，漏电流测试，工作电压范围，温度稳定性，抗干扰能力，存储密度验证，疲劳特性分析，界面特性测试，动态响应时间，电荷泄漏量，电容值测量，介电常数测试，击穿电压阈值，频率特性分析，信号延迟，静态功耗，封装可靠性。

检测范围

串行接口FRAM，并行接口FRAM，低功耗型FRAM，高温型FRAM，高密度FRAM，嵌入式FRAM，抗辐射FRAM，汽车电子级FRAM，工业控制级FRAM，消费电子级FRAM，非易失性RAM，混合信号FRAM，单芯片FRAM，多芯片模块FRAM，薄型封装FRAM，宽温型FRAM，高速型FRAM，低电压FRAM，定制化FRAM，无线通信FRAM。

检测方法

极化回线测试：通过施加交变电场测量铁电材料的极化特性。 耐久性循环测试：模拟高频读写操作以评估存储单元的寿命极限。 数据保持测试：在高温环境下验证非易失性数据的长期稳定性。 漏电流分析：检测器件在静态工作状态下的电流泄漏情况。 温度循环试验：通过高低温交替测试材料与封装的可靠性。 介电频谱分析：测量材料在不同频率下的介电响应特性。 动态信号采集：使用高速示波器捕捉读写过程中的信号完整性。 击穿电压测试：确定绝缘层或存储单元的最大耐受电压。 电容-电压特性测试：分析存储单元的电容随电压变化的规律。 疲劳特性评估：重复极化操作后检测性能衰减程度。 X射线衍射（XRD）：分析铁电材料的晶体结构完整性。 扫描电子显微镜（SEM）：观察存储单元微观形貌与缺陷。 阻抗分析：测量器件在高频下的阻抗匹配特性。 热重分析（TGA）：评估材料在高温下的热稳定性。 加速寿命试验：通过高温高湿环境模拟长期使用老化效应。

检测仪器

铁电测试仪，高低温试验箱，阻抗分析仪，数字示波器，半导体参数分析仪，恒温恒湿箱，漏电流测试仪，动态信号分析仪，X射线衍射仪，扫描电子显微镜，频谱分析仪，热重分析仪，原子力显微镜，电荷测量仪，电容测试仪。

北检院部分仪器展示