电子材料颗粒度检测

信息概要

电子材料颗粒度检测是通过分析电子材料中颗粒的尺寸分布、形状及浓度等特征，评估材料性能的关键技术。该检测对半导体制造、锂电池生产、电子陶瓷等领域的质量控制至关重要，直接影响产品的导电性、机械强度及可靠性。精确的颗粒度控制可防止电路短路、提高材料利用率并确保器件性能稳定性，是电子行业供应链质量管理的核心环节。

检测项目

粒径分布, D10/D50/D90值, 比表面积, 颗粒形貌, 团聚指数, 最大颗粒尺寸, 平均粒径, 粒度均匀性, 颗粒浓度, 沉降速率, 孔隙率, 振实密度, 流动性指数, 浊度, 颗粒结晶度, 表面粗糙度, Zeta电位, 悬浮稳定性, 颗粒硬度, 元素成分分析

检测范围

半导体抛光浆料, 锂电池正负极材料, 电子陶瓷粉体, 导电银浆, 锡膏焊粉, 磁性材料, 荧光粉, 导热硅脂, 封装胶粘剂, 光刻胶, 溅射靶材, 纳米银线, 陶瓷基板, 绝缘填料, 金属粉末, 量子点材料, 石墨烯分散液, 压敏电阻材料, MLCC介质粉, 光伏银浆

检测方法

激光衍射法：通过颗粒对激光的散射角度分布计算粒径，适用于0.1-3000μm范围。

动态光散射法：测量溶液中纳米颗粒的布朗运动速度，获得亚微米级粒径分布。

电感应域法：利用颗粒通过微孔时的电阻变化精确计数及测量1-100μm颗粒。

扫描电镜法：结合SEM成像进行形态学分析和微区尺寸统计，分辨率达纳米级。

沉降法：根据斯托克斯定律通过重力/离心沉降速率测定2-100μm颗粒分布。

图像分析法：通过光学/电子显微镜图像进行自动形态识别和尺寸统计。

BET氮吸附法：通过气体吸附量测定纳米材料的比表面积及孔隙分布。

超声衰减法：利用声波在悬浮液中的衰减特性反演颗粒浓度及粒径。

库尔特计数器：基于电阻抗原理对导电颗粒进行高精度单颗粒检测。

X射线沉降法：结合X射线吸收与沉降原理实现高浓度浆料的在线检测。

纳米颗粒追踪分析：通过粒子运动轨迹视频分析测定10-1000nm颗粒尺寸。

静态光散射法：测量多角度散射光强分布获取亚微米颗粒的绝对粒径。

离心光沉降法：在离心场中同步进行沉降和光散射测量，提升分辨率。

电声法：通过超声波在电场作用下的相位变化测量颗粒的Zeta电位。

共振质量测量：利用微机械谐振器检测单个纳米颗粒的质量与尺寸。

检测仪器

激光粒度分析仪, 动态光散射仪, 扫描电子显微镜, 库尔特计数器, 沉降式粒度仪, 图像分析系统, BET比表面分析仪, 超声粒度分析仪, X射线沉降仪, 纳米颗粒追踪分析仪, 静态光散射仪, 离心沉降仪, Zeta电位仪, 微纳天平系统, 光学显微镜

北检院部分仪器展示