陶瓷粉末颗粒度检测

信息概要

陶瓷粉末颗粒度检测是对各类陶瓷原料粉末粒径分布特征的专业分析服务。该检测直接关系到陶瓷产品的烧结性能、机械强度和表面质量，是控制陶瓷材料致密化过程、防止产品变形开裂的关键质量控制环节。通过精确测定颗粒尺寸分布，可优化生产工艺参数，确保产品批次一致性，对航空航天精密陶瓷、电子陶瓷基板、生物医用陶瓷等高端领域尤为重要。

检测项目

粒度分布曲线,D10粒径,D50中位径,D90粒径,比表面积,平均粒径,粒径跨度,众数粒径,粗颗粒含量,细颗粒含量,颗粒均匀性指数,颗粒圆形度,长径比,颗粒团聚指数,振实密度,松装密度,孔隙率,流动性指数,颗粒轮廓分形维数,静电吸附率,悬浮稳定性,激光衍射一致性系数

检测范围

氧化铝陶瓷粉,氮化硅陶瓷粉,碳化硅陶瓷粉,氧化锆陶瓷粉,钛酸钡基粉体,堇青石粉,滑石瓷粉,高频瓷粉,压电陶瓷粉,透明陶瓷粉,生物活性陶瓷粉,高岭土,膨润土,陶瓷釉料粉,电子浆料粉,热障涂层粉,结构陶瓷粉,功能陶瓷粉,耐火材料粉,陶瓷添加剂粉,3D打印陶瓷粉,陶瓷膜支撑体粉,陶瓷纤维前驱体粉,陶瓷电容器介质粉,陶瓷轴承球粉

检测方法

激光衍射法：通过颗粒对激光的散射模式反演粒径分布，适用0.02-2000μm范围

动态光散射法：检测纳米颗粒布朗运动引起的散射光波动，测量1nm-10μm超细颗粒

沉降法：依据斯托克斯定律测定颗粒在重力/离心力场中的沉降速度

电感应区法：测量颗粒通过微孔时引起的电阻变化脉冲

图像分析法：通过显微镜图像直接统计颗粒几何尺寸及形貌特征

气体吸附法：基于BET原理通过氮气吸附测量比表面积

筛分法：使用标准筛组分离不同粒径颗粒的传统方法

超声衰减法：通过超声波在悬浮液中传播衰减特性反演粒径

X射线沉降法：结合X射线吸收与沉降原理的高精度测量

离心沉降法：增强沉降分离效率，适用于亚微米级颗粒

静态光散射法：测量固定角度下的散射光强分布

电泳光散射法：分析电场中带电颗粒迁移速率

拉曼粒度法：基于拉曼光谱信号与粒径的相关性

小角X射线散射：通过SAXS图谱解析纳米级颗粒结构

声学光谱法：利用声波在颗粒悬浮液中的传播特性分析

检测仪器

激光粒度分析仪,动态光散射仪,沉降式粒度仪,库尔特计数器,扫描电镜-图像分析系统,静态图像分析仪,氮吸附比表面仪,超声粒度分析仪,X射线沉降仪,离心沉降仪,电泳仪,拉曼光谱仪,小角X射线散射仪,声学粒度分析仪,筛分振动仪

北检院部分仪器展示