钼片电阻率检测

信息概要

钼片是一种高熔点、高强度的难熔金属材料，广泛应用于电子器件、光学元件、高温结构件等领域。电阻率作为钼片核心电学性能指标，直接影响其导电性、导热性及加工稳定性。第三方检测机构通过标准化流程对钼片进行电阻率检测，可有效评估材料纯度、晶体结构均匀性及生产工艺缺陷，确保产品符合ASTM、GB等国际国内标准要求，为半导体、航空航天等高精度行业提供质量保障。

检测项目

电阻率测试,化学成分分析,晶体结构分析,表面粗糙度检测,杂质元素含量测定,洛氏硬度测试,抗拉强度检测,延伸率测试,热导率测量,密度检测,金相组织分析,断口形貌观察,维氏硬度测试,弯曲疲劳测试,超声波探伤,磁导率检测,抗氧化性能评估,耐腐蚀性测试,镀层结合力检测,高温氧化试验

检测范围

纯钼片,钼铜合金片,钼钨合金片,氧化钼涂层片,氮化钼复合片,电子级钼片,工业级钼片,高纯钼片,掺杂钼片,纳米晶钼片,热轧钼片,冷轧钼片,退火钼片,超薄钼片,多孔钼片,梯度钼片,复合基板钼片,溅射靶材钼片,发热元件钼片,坩埚成型钼片

检测方法

四探针法测量体电阻率

X射线衍射分析晶体结构

扫描电子显微镜观察微观形貌

能谱仪进行元素定性定量分析

万能材料试验机测试机械性能

激光共聚焦显微镜检测表面粗糙度

热重分析仪评估热稳定性

电感耦合等离子体质谱检测杂质含量

维氏硬度计测定材料硬度

超声波测厚仪测量厚度均匀性

三点弯曲试验评估力学性能

电化学工作站测试耐腐蚀性

红外热像仪监测热分布特性

氦气比重计测定材料密度

高温炉进行氧化性能测试

检测仪器

四探针电阻率测试仪,X射线衍射仪,扫描电子显微镜,能谱分析仪,万能材料试验机,激光共聚焦显微镜,热重分析仪,电感耦合等离子体质谱仪,维氏硬度计,超声波测厚仪,三点弯曲试验机,电化学工作站,红外热像仪,氦气比重计,高温氧化试验炉

北检院部分仪器展示