显示材料颗粒度检测

信息概要

显示材料颗粒度检测是评估显示材料中颗粒分布、大小及均匀性的重要手段，广泛应用于液晶面板、OLED屏幕、电子墨水等显示技术的质量控制。通过检测颗粒度，可以确保显示材料的透光性、色彩均匀性和整体性能，避免因颗粒分布不均导致的显示缺陷。第三方检测机构提供专业的颗粒度检测服务，帮助生产企业优化工艺、提升产品良率，同时满足行业标准和客户需求。

检测项目

颗粒尺寸分布，颗粒平均直径，颗粒密度，颗粒形状系数，颗粒表面积，颗粒体积分数，颗粒浓度，颗粒聚集度，颗粒分散性，颗粒折射率，颗粒透明度，颗粒散射特性，颗粒沉降速率，颗粒流动性，颗粒硬度，颗粒化学成分，颗粒表面粗糙度，颗粒电荷特性，颗粒热稳定性，颗粒光学均匀性

检测范围

液晶显示材料，OLED显示材料，电子墨水材料，量子点材料，LED背光材料，偏光片材料，透明导电薄膜，光学胶膜，防眩光涂层，抗反射涂层，彩色滤光片，玻璃基板，柔性显示材料，触控面板材料，显示模组封装材料，纳米银线材料，光刻胶材料，显示驱动芯片封装材料，显示背板材料，显示保护玻璃

检测方法

激光衍射法：通过激光散射测量颗粒尺寸分布。

动态光散射法：利用颗粒布朗运动分析粒径。

静态光散射法：测量颗粒对光的散射强度以确定粒径。

电子显微镜法：通过高分辨率成像直接观察颗粒形貌。

X射线衍射法：分析颗粒晶体结构和尺寸。

沉降法：根据颗粒沉降速度计算粒径。

离心法：通过离心力分离不同粒径颗粒。

图像分析法：对显微图像进行数字化处理以统计颗粒参数。

比表面积法：通过气体吸附测量颗粒比表面积。

库尔特计数器法：利用电阻变化测量颗粒体积。

超声波法：通过声波衰减分析颗粒浓度和尺寸。

拉曼光谱法：检测颗粒化学成分和结构。

热重分析法：评估颗粒热稳定性。

zeta电位法：测量颗粒表面电荷特性。

光学显微镜法：通过显微观察初步评估颗粒分布。

检测仪器

激光粒度分析仪，动态光散射仪，静态光散射仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线衍射仪，沉降天平，离心机，图像分析系统，比表面积分析仪，库尔特计数器，超声波粒度分析仪，拉曼光谱仪，热重分析仪，zeta电位分析仪，光学显微镜

北检院部分仪器展示