LeTID认证 光热诱导衰减

信息概要

LeTID认证（光热诱导衰减）是针对光伏组件在高温和高光照条件下性能衰减的专项检测服务。该认证通过模拟实际运行环境中的光热应力，评估组件长期可靠性，对确保光伏系统效率与寿命至关重要。检测可帮助厂商优化生产工艺，降低光热衰减率，同时为终端用户提供质量保障，是光伏行业质量控制的核心环节。

检测项目

最大功率衰减率，开路电压衰减，短路电流衰减，填充因子变化，效率衰减，温度系数稳定性，暗态电流-电压特性，光致发光成像，电致发光成像，热斑效应，PID效应，湿冻循环耐受性，湿热循环耐受性，机械载荷性能，紫外老化测试，电势诱导衰减，串联电阻变化，并联电阻变化，EL缺陷检测，外观检查

检测范围

单晶硅组件，多晶硅组件，PERC组件，HJT异质结组件，TOPCon组件，双面发电组件，薄膜光伏组件，BIPV建筑一体化组件，柔性组件，半片组件，叠瓦组件，轻量化组件，海上光伏组件，高原型组件，沙漠型组件，户用屋顶组件，工商业屋顶组件，光伏扶贫组件，农业光伏组件，车载光伏组件

检测方法

IEC 61215标准测试：针对地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型

IEC 61730安全认证测试：评估组件的电气安全和机械安全性能

IEC TS 63202-1 LeTID专项测试：光热诱导衰减的标准化测试流程

热循环测试：在-40°C至85°C间进行200次循环以评估热应力影响

湿热老化测试：85°C/85%RH条件下持续1000小时加速老化

动态机械载荷测试：模拟风压和雪压对组件结构的机械应力

紫外预处理测试：通过UV辐射评估封装材料老化特性

电致发光成像检测：利用EL相机捕捉电池片微观缺陷

光致发光分析：通过PL成像技术评估材料质量与载流子寿命

IV曲线追踪：标准测试条件下测量电流-电压特性曲线

暗IV测试：无光照条件下分析组件并联电阻和二极管特性

热成像分析：红外相机检测组件温度分布异常点

湿漏电流测试：评估组件在潮湿环境下的绝缘性能

PID测试：96小时高压偏置下的电势诱导衰减评估

光谱响应测量：分析组件对不同波长光的转换效率

检测仪器

太阳模拟器，IV曲线测试仪，环境试验箱，EL检测设备，PL检测系统，红外热像仪，紫外老化箱，湿热循环箱，机械载荷试验机，绝缘耐压测试仪，接地连续性测试仪，光谱响应分析仪，数据采集系统，IV扫描仪，IV tracer

北检院部分仪器展示