SiO颗粒振实密度（GB/T 5162）

信息概要

SiO颗粒振实密度（GB/T 5162）是指通过标准方法测定二氧化硅颗粒在振动条件下的堆积密度，是评价其物理性能的重要指标之一。该检测对于材料的生产、质量控制及应用领域（如电子、陶瓷、涂料等）具有重要意义，能够确保产品符合行业标准和使用要求。通过第三方检测机构的专业服务，可提供准确、可靠的振实密度数据，帮助企业优化生产工艺并提升产品竞争力。

检测项目

振实密度, 松装密度, 粒径分布, 比表面积, 孔隙率, 流动性, 水分含量, 灼烧减量, 化学成分, 杂质含量, 颗粒形貌, 堆积角, 休止角, 压缩性, 吸油值, 折射率, 硬度, 耐磨性, 热稳定性, 电导率

检测范围

球形SiO颗粒, 多孔SiO颗粒, 纳米SiO颗粒, 高纯SiO颗粒, 改性SiO颗粒, 疏水SiO颗粒, 亲水SiO颗粒, 电子级SiO颗粒, 医药级SiO颗粒, 涂料用SiO颗粒, 橡胶用SiO颗粒, 陶瓷用SiO颗粒, 塑料用SiO颗粒, 化妆品用SiO颗粒, 食品级SiO颗粒, 催化剂载体SiO颗粒, 绝缘材料用SiO颗粒, 光学材料用SiO颗粒, 吸附剂用SiO颗粒, 填料用SiO颗粒

检测方法

GB/T 5162-2021振实密度测试法：通过标准振动装置测定颗粒在固定条件下的振实密度。

GB/T 1479.1-2011金属粉末松装密度测定：采用漏斗法测量颗粒自然堆积状态下的密度。

激光衍射法：利用激光粒度分析仪测定颗粒的粒径分布。

BET法：通过氮气吸附测定颗粒的比表面积。

压汞法：测量颗粒的孔隙率及孔径分布。

卡尔费休法：测定颗粒中的水分含量。

灼烧法：高温灼烧后计算灼烧减量。

X射线荧光光谱法（XRF）：分析颗粒的化学成分及杂质含量。

扫描电子显微镜（SEM）：观察颗粒的形貌和表面结构。

休止角测试法：通过倾斜法测量颗粒的休止角。

压缩性测试法：评估颗粒在压力下的密实行为。

吸油值测定法：通过滴加亚麻籽油测定颗粒的吸油性能。

阿贝折射仪法：测量颗粒的折射率。

莫氏硬度计法：测定颗粒的硬度等级。

热重分析法（TGA）：评估颗粒的热稳定性。

检测仪器

振实密度仪, 松装密度测定仪, 激光粒度分析仪, BET比表面积分析仪, 压汞仪, 卡尔费休水分测定仪, 马弗炉, X射线荧光光谱仪, 扫描电子显微镜, 休止角测定仪, 压缩性测试仪, 吸油值测定装置, 阿贝折射仪, 莫氏硬度计, 热重分析仪

北检院部分仪器展示