量子点包覆SiO荧光量子产率

信息概要

量子点包覆SiO荧光量子产率是衡量量子点复合材料发光效率的关键指标，广泛应用于生物标记、显示技术和太阳能电池等领域。检测该产品的荧光量子产率对于确保其性能稳定性、应用可靠性及商业化价值至关重要。第三方检测机构通过专业设备和方法，为客户提供准确、可靠的检测数据，助力产品研发和质量控制。

检测项目

荧光量子产率，吸收光谱，发射光谱，激发光谱，荧光寿命，斯托克斯位移，粒径分布，表面形貌，元素组成，化学稳定性，热稳定性，光稳定性，pH敏感性，浓度依赖性，温度依赖性，溶剂效应，包覆层厚度，量子点核心尺寸，SiO壳层均匀性，荧光衰减曲线

检测范围

CdSe/SiO2量子点，CdTe/SiO2量子点，PbS/SiO2量子点，InP/SiO2量子点，ZnSe/SiO2量子点，CuInS2/SiO2量子点，AgInS2/SiO2量子点，碳量子点/SiO2，钙钛矿量子点/SiO2，核壳结构量子点，掺杂型量子点，水溶性量子点，油溶性量子点，近红外荧光量子点，可见光荧光量子点，紫外荧光量子点，多色发射量子点，单色发射量子点，生物相容性量子点，环境友好型量子点

检测方法

积分球法：通过积分球收集荧光和激发光，计算量子产率。

荧光光谱法：测定样品的荧光发射光谱和激发光谱。

紫外-可见吸收光谱法：分析样品的吸收特性。

时间分辨荧光光谱法：测量荧光寿命和衰减动力学。

动态光散射法：测定量子点粒径分布。

透射电子显微镜法：观察量子点形貌和包覆层结构。

X射线衍射法：分析量子点晶体结构。

X射线光电子能谱法：测定表面元素组成和化学状态。

傅里叶变换红外光谱法：检测表面官能团和包覆层化学键。

热重分析法：评估量子点的热稳定性。

荧光显微镜法：观察量子点在特定环境下的荧光行为。

Zeta电位法：测定量子点表面电荷和稳定性。

电感耦合等离子体质谱法：分析量子点中金属元素含量。

拉曼光谱法：研究量子点振动模式和包覆层性质。

高效液相色谱法：分离和鉴定量子点样品中的组分。

检测仪器

荧光分光光度计，紫外-可见分光光度计，积分球系统，时间相关单光子计数系统，动态光散射仪，透射电子显微镜，X射线衍射仪，X射线光电子能谱仪，傅里叶变换红外光谱仪，热重分析仪，荧光显微镜，Zeta电位分析仪，电感耦合等离子体质谱仪，拉曼光谱仪，高效液相色谱仪

北检院部分仪器展示