氧化铝透射电镜（TEM）检测

信息概要

氧化铝透射电镜（TEM）检测是一种高分辨率的微观结构分析方法，主要用于分析氧化铝材料的晶体结构、形貌、尺寸分布以及缺陷等特性。该检测在材料科学、纳米技术、催化剂研究等领域具有重要意义，能够为产品质量控制、研发优化以及性能评估提供关键数据支持。通过TEM检测，可以深入了解氧化铝的微观特征，从而指导生产工艺改进和应用性能提升。

检测项目

晶体结构分析，晶格常数测定，晶粒尺寸分布，形貌观察，颗粒分散性，缺陷分析（如位错、层错），元素分布，相组成，界面特性，表面粗糙度，孔径分布，比表面积，厚度测量，电子衍射分析，选区电子衍射，高分辨成像，能谱分析（EDS），电子能量损失谱（EELS），样品纯度评估，化学组成分析

检测范围

α-氧化铝，γ-氧化铝，δ-氧化铝，θ-氧化铝，纳米氧化铝，多孔氧化铝，单晶氧化铝，多晶氧化铝，氧化铝薄膜，氧化铝粉末，氧化铝陶瓷，氧化铝纤维，氧化铝涂层，氧化铝催化剂，氧化铝填料，氧化铝复合材料，氧化铝凝胶，氧化铝溶胶，氧化铝纳米线，氧化铝纳米片

检测方法

高分辨透射电镜（HRTEM）：用于观察原子级分辨率的晶体结构和缺陷。

选区电子衍射（SAED）：分析样品的晶体结构和取向。

能谱分析（EDS）：测定样品的元素组成和分布。

电子能量损失谱（EELS）：研究样品的电子结构和化学成分。

暗场成像（DFI）：用于观察特定晶面或缺陷的分布。

明场成像（BFI）：常规形貌观察和分析。

电子断层扫描（ET）：三维结构重建和分析。

动态透射电镜（In-situ TEM）：实时观察样品在外部刺激下的变化。

低剂量电子束成像：减少电子束对敏感样品的损伤。

高角度环形暗场成像（HAADF）：用于观察重元素分布和原子级分辨率成像。

电子全息术：研究样品的电磁场分布。

环境透射电镜（ETEM）：在气体或液体环境中观察样品。

冷冻透射电镜（Cryo-TEM）：用于观察生物或敏感样品的原始状态。

电子背散射衍射（EBSD）：分析样品的晶体取向和织构。

X射线能谱成像（XEDS mapping）：元素分布的二维或三维成像。

检测仪器

透射电子显微镜（TEM），高分辨透射电子显微镜（HRTEM），扫描透射电子显微镜（STEM），能谱仪（EDS），电子能量损失谱仪（EELS），电子断层扫描系统，环境透射电子显微镜（ETEM），冷冻透射电子显微镜（Cryo-TEM），电子全息系统，电子背散射衍射仪（EBSD），X射线能谱成像系统，动态透射电子显微镜（In-situ TEM），低剂量电子束系统，高角度环形暗场探测器（HAADF），电子衍射系统

北检院部分仪器展示