量子点提纯分离试验是针对纳米级半导体材料(量子点)的纯化与分离过程进行的专业检测服务。量子点因其独特的光电特性,广泛应用于显示技术、生物医学成像、太阳能电池等领域。提纯分离是确保量子点性能稳定、杂质可控的关键步骤,检测的重要性在于验证其纯度、尺寸分布、光学性能等核心指标,直接影响最终产品的可靠性与应用效果。本检测服务涵盖量子点提纯分离后的多项参数分析,为研发、生产及质量控制提供数据支持。
量子点浓度, 尺寸分布, 荧光量子产率, 吸收光谱, 发射光谱, 半峰宽, 表面配体覆盖率, 元素组成, 晶体结构, 分散稳定性, Zeta电位, 粒径均一性, 氧化程度, 重金属残留, 有机溶剂残留, 光稳定性, 热稳定性, 电化学性能, 表面缺陷密度, 生物相容性
CdSe量子点, CdTe量子点, PbS量子点, InP量子点, ZnS量子点, CuInS2量子点, 钙钛矿量子点, 碳量子点, 石墨烯量子点, 硅量子点, 核壳结构量子点, 合金量子点, 水溶性量子点, 油溶性量子点, 聚合物包裹量子点, 生物标记量子点, 近红外量子点, 紫外量子点, 多色发射量子点, 磁性量子点
紫外-可见分光光度法(测定吸收光谱及浓度)
荧光分光光度法(分析发射光谱及量子产率)
动态光散射法(DLS,测量粒径分布及均一性)
透射电子显微镜(TEM,观察形貌及晶体结构)
X射线衍射(XRD,确定晶体相及纯度)
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS,检测元素组成及重金属残留)
高效液相色谱(HPLC,分析表面配体及有机残留)
傅里叶变换红外光谱(FTIR,表征表面化学键及配体覆盖)
Zeta电位分析(评估分散稳定性)
热重分析(TGA,测定热稳定性及有机组分含量)
X射线光电子能谱(XPS,分析表面元素化学态)
原子力显微镜(AFM,检测表面形貌及缺陷)
电化学阻抗谱(EIS,评估电化学性能)
加速老化试验(测试光稳定性及环境耐受性)
细胞毒性试验(验证生物相容性)
紫外-可见分光光度计, 荧光光谱仪, 动态光散射仪, 透射电子显微镜, X射线衍射仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 高效液相色谱仪, 傅里叶变换红外光谱仪, Zeta电位分析仪, 热重分析仪, X射线光电子能谱仪, 原子力显微镜, 电化学工作站, 加速老化试验箱, 细胞培养箱