钨金条镉含量检测（ICP - MS）

信息概要

钨金条镉含量检测（ICP-MS）是一种通过电感耦合等离子体质谱法对钨金条中镉元素含量进行精确测定的检测服务。该检测对于确保钨金条材料的纯度和安全性至关重要，尤其在电子、航空航天、医疗器械等领域，镉作为有害元素需严格管控。通过第三方检测机构的专业服务，可帮助企业符合国际环保标准（如RoHS、REACH等），保障产品质量并规避贸易风险。

检测项目

镉含量, 铅含量, 汞含量, 砷含量, 铬含量, 镍含量, 铜含量, 锌含量, 铁含量, 锰含量, 钴含量, 钼含量, 钒含量, 钛含量, 锡含量, 锑含量, 铋含量, 银含量, 金含量, 铂含量

检测范围

高纯钨金条, 掺杂钨金条, 合金钨金条, 电子级钨金条, 医用钨金条, 工业用钨金条, 溅射靶材钨金条, 高温烧结钨金条, 镀膜钨金条, 单晶钨金条, 多晶钨金条, 纳米钨金条, 粉末冶金钨金条, 锻造钨金条, 轧制钨金条, 拉丝钨金条, 切削钨金条, 焊接钨金条, 涂层钨金条, 复合材料钨金条

检测方法

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：高灵敏度、多元素同时检测，适用于痕量镉分析。

X射线荧光光谱法（XRF）：无损检测，快速筛查重金属含量。

原子吸收光谱法（AAS）：针对特定元素定量分析，成本较低。

火花源原子发射光谱法（Spark-OES）：适用于固体样品快速成分分析。

辉光放电质谱法（GD-MS）：高精度检测超痕量杂质。

中子活化分析（NAA）：非破坏性检测，灵敏度极高。

电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）：多元素分析，中等检测限。

激光诱导击穿光谱法（LIBS）：实时在线检测，无需复杂制样。

离子色谱法（IC）：检测可溶性离子态杂质。

质谱联用技术（HPLC-MS）：用于有机金属化合物分析。

扫描电子显微镜-能谱法（SEM-EDS）：表面元素分布与含量测定。

紫外可见分光光度法（UV-Vis）：特定元素显色反应定量。

伏安法：电化学检测重金属离子。

微波消解前处理：样品溶解标准化流程。

酸溶解-萃取法：分离富集目标元素。

检测仪器

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）, X射线荧光光谱仪（XRF）, 原子吸收光谱仪（AAS）, 火花源原子发射光谱仪（Spark-OES）, 辉光放电质谱仪（GD-MS）, 中子活化分析仪（NAA）, 电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES）, 激光诱导击穿光谱仪（LIBS）, 离子色谱仪（IC）, 液相色谱-质谱联用仪（HPLC-MS）, 扫描电子显微镜-能谱仪（SEM-EDS）, 紫外可见分光光度计（UV-Vis）, 伏安分析仪, 微波消解仪, 离心萃取机

北检院部分仪器展示