手持式XRD氧化铝晶型检测仪

信息概要

手持式XRD氧化铝晶型检测仪是一种便携式检测设备，专门用于快速、准确地分析氧化铝材料的晶型结构。氧化铝晶型对材料的物理化学性质、应用性能及生产工艺具有重要影响，因此检测其晶型是确保产品质量、优化生产工艺的关键环节。该检测仪通过X射线衍射技术，能够现场无损检测氧化铝的晶型组成，广泛应用于冶金、陶瓷、化工、电子等行业。检测结果可为产品质量控制、研发改进及合规性验证提供科学依据。

检测项目

α-Al2O3含量, γ-Al2O3含量, θ-Al2O3含量, κ-Al2O3含量, δ-Al2O3含量, η-Al2O3含量, χ-Al2O3含量, β-Al2O3含量, 晶型纯度, 晶粒尺寸, 结晶度, 晶格常数, 杂质相检测, 相变温度, 热稳定性, 比表面积, 孔隙率, 密度, 硬度, 抗压强度

检测范围

冶金级氧化铝, 陶瓷级氧化铝, 电子级氧化铝, 耐火材料用氧化铝, 催化剂载体用氧化铝, 磨料用氧化铝, 填料用氧化铝, 涂层用氧化铝, 医药用氧化铝, 食品级氧化铝, 高纯氧化铝, 纳米氧化铝, 多孔氧化铝, 纤维状氧化铝, 片状氧化铝, 球形氧化铝, 活性氧化铝, 煅烧氧化铝, 水合氧化铝, 改性氧化铝

检测方法

X射线衍射法（XRD）：通过分析衍射图谱确定氧化铝晶型及含量。

扫描电子显微镜法（SEM）：观察氧化铝微观形貌及晶粒分布。

透射电子显微镜法（TEM）：分析氧化铝晶格结构及缺陷。

热重分析法（TGA）：测定氧化铝的热稳定性及相变温度。

差示扫描量热法（DSC）：研究氧化铝的热力学性质及相变行为。

比表面积分析法（BET）：测定氧化铝的比表面积及孔隙结构。

激光粒度分析法：测量氧化铝颗粒的粒径分布。

红外光谱法（FTIR）：分析氧化铝表面化学键及官能团。

拉曼光谱法：研究氧化铝的分子振动及晶型特征。

X射线光电子能谱法（XPS）：测定氧化铝表面元素组成及化学状态。

原子力显微镜法（AFM）：观察氧化铝表面形貌及粗糙度。

密度测定法：通过阿基米德原理测量氧化铝的密度。

硬度测试法：使用显微硬度计测定氧化铝的硬度。

抗压强度测试法：通过压力试验机测定氧化铝的抗压强度。

化学分析法：湿法化学分析氧化铝的杂质含量。

检测仪器

手持式XRD分析仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, 热重分析仪, 差示扫描量热仪, 比表面积分析仪, 激光粒度分析仪, 红外光谱仪, 拉曼光谱仪, X射线光电子能谱仪, 原子力显微镜, 密度计, 显微硬度计, 压力试验机, 化学分析仪

北检院部分仪器展示