超分辨显微镜定位精度测试

信息概要

超分辨显微镜定位精度测试是评估显微镜系统在纳米尺度下定位目标分子或结构准确性的关键检测项目。该测试通过量化显微镜的定位误差，确保其在高分辨率成像中的可靠性，广泛应用于生物医学、材料科学和纳米技术等领域。检测的重要性在于验证显微镜的性能是否符合行业标准，为科研和工业应用提供准确的数据支持，避免因仪器误差导致的研究偏差或产品质量问题。

检测项目

定位精度，横向分辨率，轴向分辨率，信噪比，漂移校正，重复性，线性度，稳定性，背景噪声，荧光标记效率，激发光均匀性，探测器灵敏度，光学畸变，色差校正，像散校正，聚焦精度，扫描速度，温度稳定性，湿度影响，振动抗干扰性

检测范围

STED显微镜，PALM显微镜，STORM显微镜，SIM显微镜，TIRF显微镜，共聚焦显微镜，双光子显微镜，光片显微镜，荧光显微镜，电子显微镜，原子力显微镜，近场光学显微镜，超分辨光学 fluctuation显微镜，随机光学重建显微镜，结构光照明显微镜，单分子定位显微镜，全内反射显微镜，受激发射损耗显微镜，超分辨相干显微镜，超分辨荧光显微镜

检测方法

单分子定位法：通过分析单个荧光分子的定位数据计算精度。

荧光珠校准法：使用已知尺寸的荧光珠作为标准样品进行测试。

漂移校正测试：评估系统在长时间成像中的稳定性。

信噪比分析：测量信号与背景噪声的比值。

分辨率测试：通过成像标准样品确定横向和轴向分辨率。

重复性测试：多次测量同一目标以评估系统的一致性。

线性度测试：检查系统在不同尺度下的定位准确性。

稳定性测试：评估系统在不同环境条件下的性能。

背景噪声测试：测量无样品时的背景信号水平。

荧光标记效率测试：量化荧光标记的成功率。

激发光均匀性测试：检查激发光场的均匀性。

探测器灵敏度测试：评估探测器对弱信号的响应能力。

光学畸变测试：检测光学系统的像差和畸变。

色差校正测试：验证系统对不同波长光的校正能力。

像散校正测试：评估系统对像散的校正效果。

检测仪器

超分辨显微镜系统，荧光光谱仪，光电倍增管，CCD相机，EMCCD相机，sCMOS相机，激光器，光学平台，温控系统，湿度控制器，振动隔离台，精密位移台，光谱分析仪，光子计数器，数据采集卡

北检院部分仪器展示