硅基负极粒径分布检测

信息概要

硅基负极粒径分布检测是锂电池材料性能评估的关键环节，主要用于分析硅基负极材料的颗粒大小、分布均匀性及形貌特征，直接影响电池的能量密度、循环寿命和安全性。第三方检测机构通过专业仪器和方法，为客户提供精准的粒径数据，助力材料研发、工艺优化和质量控制。检测结果可帮助企业筛选优质材料、改进生产工艺，并满足国际标准（如ISO、ASTM）或行业规范要求，确保产品竞争力。

检测项目

D10粒径，D50粒径，D90粒径，体积平均粒径，数量平均粒径，比表面积，孔隙率，振实密度，松装密度，粒度分布宽度，球形度，长径比，表面粗糙度，团聚指数，Zeta电位，碳含量，氧含量，硅结晶度，表面包覆层厚度，元素分布均匀性

检测范围

纳米硅颗粒，微米硅颗粒，多孔硅材料，硅碳复合材料，氧化亚硅，硅合金负极，核壳结构硅负极，硅纳米线，硅薄膜，硅气凝胶，掺杂硅材料，预锂化硅负极，硅基聚合物复合材料，硅石墨烯复合材料，硅金属氧化物复合材料，硅纳米管，硅多孔球，硅包覆碳材料，硅基高熵合金，硅量子点

检测方法

激光衍射法：通过颗粒对激光的散射特性计算粒径分布，适用于0.1-3000μm范围。

动态光散射法：测量纳米颗粒在溶液中的布朗运动速度，分析1nm-1μm粒径。

电镜图像分析法：结合SEM/TEM图像统计颗粒几何尺寸和形貌。

BET氮吸附法：利用气体吸附原理测定比表面积和孔隙分布。

X射线衍射法：通过衍射峰宽计算晶粒尺寸并分析结晶度。

离心沉降法：基于斯托克斯定律分离不同粒径颗粒。

库尔特计数器：电感应原理测量单个颗粒体积等效直径。

超声衰减法：利用超声波在悬浮液中的衰减谱反演粒径。

原子力显微镜：三维形貌扫描获取表面粗糙度和纳米级颗粒高度。

X射线光电子能谱：表面元素化学态及包覆层厚度分析。

拉曼光谱法：表征硅相变程度和应力分布。

热重分析法：测定碳包覆含量及热稳定性。

电感耦合等离子体光谱：元素成分定量检测。

聚焦离子束切割：截面制备观察内部结构。

纳米颗粒追踪分析：实时追踪悬浮颗粒运动轨迹计算粒径。

检测仪器

激光粒度分析仪，动态光散射仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，比表面积分析仪，X射线衍射仪，离心沉降仪，库尔特计数器，超声粒度分析仪，原子力显微镜，X射线光电子能谱仪，拉曼光谱仪，热重分析仪，电感耦合等离子体发射光谱仪，聚焦离子束系统

北检院部分仪器展示