X射线荧光镜元素分析测试

信息概要

X射线荧光镜元素分析测试是一种非破坏性检测技术，通过测量样品受X射线激发后发射的特征荧光光谱，快速准确地分析样品中的元素组成及含量。该技术广泛应用于材料科学、环境监测、地质勘探、电子产品、金属加工等领域。检测的重要性在于确保材料成分符合标准要求，避免有害元素超标，保障产品质量与安全，同时为科研和生产提供可靠的数据支持。

检测项目

元素含量分析, 重金属检测, 有害物质筛查, 材料成分鉴定, 合金成分分析, 镀层厚度测量, 矿石成分分析, 土壤污染检测, 塑料添加剂分析, 电子元器件材料检测, 涂料成分分析, 陶瓷原料检测, 玻璃成分分析, 金属杂质检测, 矿物元素测定, 废水重金属分析, 大气颗粒物成分检测, 食品包装材料安全性评估, 药品辅料成分检测, 化妆品微量元素分析

检测范围

金属材料, 合金制品, 矿石矿物, 土壤沉积物, 废水污泥, 大气颗粒物, 塑料制品, 电子元器件, 涂料油漆, 陶瓷制品, 玻璃产品, 食品包装材料, 药品辅料, 化妆品, 纺织品, 建筑材料, 汽车零部件, 航空航天材料, 珠宝首饰, 废旧物资

检测方法

能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF): 通过测量荧光X射线的能量分布进行元素分析

波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF): 利用分光晶体测量荧光X射线的波长进行高精度分析

全反射X射线荧光光谱法(TXRF): 适用于痕量元素检测的高灵敏度方法

微区X射线荧光分析(μ-XRF): 对样品微小区域进行元素分布分析

偏振X射线荧光光谱法(P-EDXRF): 使用偏振光降低背景干扰提高信噪比

同步辐射X射线荧光分析(SR-XRF): 利用同步辐射光源实现超高灵敏度检测

X射线荧光成像技术: 获取样品表面元素分布图像

薄膜X射线荧光分析: 专门用于薄膜材料成分和厚度测定

便携式X射线荧光分析: 现场快速检测技术

X射线荧光深度剖析: 分析材料内部元素分布

X射线荧光定量分析: 通过标准样品建立校准曲线进行定量

X射线荧光半定量分析: 无需标准样品的快速成分估算

X射线荧光无损检测: 保持样品完整性的分析方法

X射线荧光在线检测: 用于生产过程的实时监控

X射线荧光多元素同时分析: 一次性测定多种元素含量

检测仪器

能量色散X射线荧光光谱仪, 波长色散X射线荧光光谱仪, 全反射X射线荧光光谱仪, 微区X射线荧光分析仪, 偏振能量色散X射线荧光光谱仪, 同步辐射X射线荧光分析装置, 便携式X射线荧光分析仪, 台式X射线荧光光谱仪, 在线X射线荧光分析系统, X射线荧光成像系统, 手持式X射线荧光分析仪, 实验室用X射线荧光光谱仪, 高分辨率X射线荧光光谱仪, 多功能X射线荧光分析仪, 自动化X射线荧光检测系统

北检院部分仪器展示