GTEM小室静电验证是一种用于评估电子设备或组件在静电放电环境下的抗干扰能力的测试方法。该测试通过模拟真实环境中的静电放电事件,确保产品在设计和制造过程中具备足够的静电防护能力。检测的重要性在于,静电放电可能导致电子设备性能下降、功能异常甚至永久损坏,因此通过GTEM小室静电验证可以提前发现潜在问题,提高产品的可靠性和市场竞争力。
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直接放电法:通过直接对设备施加静电放电,观察其响应。
间接放电法:通过耦合板或空气放电模拟静电干扰。
接触放电法:使用放电枪直接接触被测设备进行测试。
空气放电法:在非接触情况下模拟静电放电事件。
耦合板放电法:通过耦合板将静电能量传递到被测设备。
辐射场法:测量静电放电产生的辐射场对设备的影响。
传导干扰法:评估静电放电通过传导路径对设备的影响。
波形分析法:分析静电放电波形的参数和特性。
重复频率测试法:测试设备对重复静电放电的耐受能力。
极性测试法:分别测试正负极性静电放电的影响。
失效阈值法:确定设备在静电放电下的失效阈值。
屏蔽效能测试法:评估设备外壳或屏蔽结构的防护效果。
接地性能测试法:测量设备接地系统对静电放电的疏导能力。
环境适应性测试法:在不同环境条件下进行静电放电测试。
耐久性测试法:评估设备在多次静电放电后的性能变化。
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