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北检(北京)检测技术研究院(简称:北检院),依托科研测试与材料检测重点领域,结合“211工程”和“985工程”建设,面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务,构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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偏硅酸超临界流体萃取测试(SFE)

发布时间:2025-06-24 17:31:17 点击数:0
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信息概要

偏硅酸超临界流体萃取测试(SFE)是一种利用超临界流体(如二氧化碳)在高温高压条件下高效萃取偏硅酸的技术。该技术具有环保、高效、选择性好等优点,广泛应用于化工、医药、食品等领域。检测偏硅酸的含量和纯度对于确保产品质量、优化生产工艺以及满足行业标准至关重要。第三方检测机构通过专业的SFE测试服务,为客户提供准确、可靠的检测数据,助力企业提升产品竞争力。

检测项目

偏硅酸含量,萃取效率,残留溶剂,水分含量,灰分含量,重金属含量,pH值,密度,粘度,溶解度,纯度,颗粒度,比表面积,孔径分布,热稳定性,化学稳定性,氧化还原性,挥发性有机物,无机杂质,微生物限度

检测范围

化工原料,医药中间体,食品添加剂,化妆品原料,陶瓷材料,涂料,橡胶制品,塑料制品,纺织助剂,水处理剂,电子材料,催化剂,吸附剂,纳米材料,复合材料,环保材料,建筑材料,农药,肥料,染料

检测方法

超临界流体萃取法(SFE):利用超临界流体在特定条件下萃取目标物质。

高效液相色谱法(HPLC):用于分离和定量分析偏硅酸及其衍生物。

气相色谱法(GC):检测挥发性有机物和残留溶剂。

原子吸收光谱法(AAS):测定重金属含量。

紫外-可见分光光度法(UV-Vis):分析偏硅酸的纯度和浓度。

红外光谱法(IR):鉴定偏硅酸的分子结构。

热重分析法(TGA):评估材料的热稳定性。

差示扫描量热法(DSC):测定材料的热性能。

扫描电子显微镜(SEM):观察材料的表面形貌和颗粒分布。

透射电子显微镜(TEM):分析材料的微观结构。

比表面积分析(BET):测定材料的比表面积和孔径分布。

X射线衍射法(XRD):鉴定材料的晶体结构。

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):检测痕量元素。

微生物限度测试:评估产品的微生物污染情况。

pH值测定:检测溶液的酸碱度。

检测仪器

超临界流体萃取仪,高效液相色谱仪,气相色谱仪,原子吸收光谱仪,紫外-可见分光光度计,红外光谱仪,热重分析仪,差示扫描量热仪,扫描电子显微镜,透射电子显微镜,比表面积分析仪,X射线衍射仪,电感耦合等离子体质谱仪,pH计,微生物限度检测仪

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