触点材料镉豁免(RoHS)测试是针对电子电气设备中使用的触点材料中镉含量的检测服务,确保其符合RoHS指令的豁免要求。该测试对于保障产品环保合规性、避免法律风险以及满足国际市场准入标准具有重要意义。通过专业的第三方检测,企业可以确保其产品在镉含量方面符合法规要求,提升市场竞争力。
镉含量, 铅含量, 汞含量, 六价铬含量, 多溴联苯含量, 多溴二苯醚含量, 邻苯二甲酸二乙酯含量, 邻苯二甲酸二丁酯含量, 邻苯二甲酸丁苄酯含量, 邻苯二甲酸二异壬酯含量, 邻苯二甲酸二异癸酯含量, 总卤素含量, 镍释放量, 砷含量, 硒含量, 锑含量, 钡含量, 铍含量, 钴含量, 铜含量
继电器触点, 开关触点, 连接器触点, 断路器触点, 接触器触点, 传感器触点, 按钮开关触点, 滑动开关触点, 旋转开关触点, 微动开关触点, 保险丝触点, 插座触点, 插头触点, 接线端子触点, 电磁铁触点, 电机触点, 变压器触点, 电路板触点, 电子元件触点, 导电橡胶触点
X射线荧光光谱法(XRF):通过X射线荧光光谱仪测定材料中镉及其他重金属含量。
电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):利用等离子体激发样品中的元素,测定其含量。
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):通过质谱仪检测样品中痕量元素的含量。
紫外可见分光光度法(UV-Vis):用于测定六价铬等特定化合物的含量。
气相色谱-质谱联用法(GC-MS):用于检测有机污染物如多溴联苯和多溴二苯醚。
高效液相色谱法(HPLC):用于测定邻苯二甲酸酯类物质的含量。
原子吸收光谱法(AAS):通过原子吸收光谱仪测定金属元素的含量。
离子色谱法(IC):用于检测卤素等离子的含量。
热重分析法(TGA):通过热重分析仪测定样品中挥发性物质的含量。
扫描电子显微镜法(SEM):用于观察触点材料的表面形貌和元素分布。
能量色散X射线光谱法(EDX):与SEM联用,分析材料中元素的组成。
傅里叶变换红外光谱法(FTIR):用于检测有机化合物的结构和含量。
火花源原子发射光谱法(Spark-OES):用于快速测定金属材料中的元素含量。
激光诱导击穿光谱法(LIBS):通过激光激发样品,测定其元素组成。
电化学分析法:用于测定特定元素的电化学行为及其含量。
X射线荧光光谱仪, 电感耦合等离子体发射光谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 紫外可见分光光度计, 气相色谱-质谱联用仪, 高效液相色谱仪, 原子吸收光谱仪, 离子色谱仪, 热重分析仪, 扫描电子显微镜, 能量色散X射线光谱仪, 傅里叶变换红外光谱仪, 火花源原子发射光谱仪, 激光诱导击穿光谱仪, 电化学分析仪