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北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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性能测试

输入失调电流检测

发布时间：2023-05-14 04:24:40 点击数：0
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检测样品

半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）模拟集成电路一次性使用心电电极集成电路(D/AC)半导体集成电路电压比较器半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）半导体集成电路运算（电压）放大器运算放大器电压比较器线性数字/模拟转换器（DAC）半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器放大器运算放大器和电压比较器半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）血压传感器ADC/DAC转换器延时继电器

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

输入失调电流输入失调电流 IIO直流失调电压失调误差温度系数失调误差输入失调电压输入失调电流 两种方法输入失调电压 VIODAC失调误差复合失调不稳定性和内部噪音输入失调电流（IOS）失调误差 EO输入失调电流温度系数输入失调电压（VOS）ADC失调误差失调输入失调电压温度系数失调误差EO复合失调不稳定性的内部噪声

检测标准

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.3

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 6

一次性使用心电电极 YY/T 0196-2005 4.2.2

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节 6

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.2

《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 第5.3条

集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.1

半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996 2.3

集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.2

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节6

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.1

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 5

《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018 5.3

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.1，6.1

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.1

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节5

《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 第6.1条

一次性使用心电电极 YY/T 0196-2005 4.2.3

《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节第5条

《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018 5.1

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节 5

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第IV篇、第2节、6

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.3

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 4.3节

半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第IV篇 第2节

半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 2.1

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 7

一次性使用心电电极 YY/T 0196-2005 4.2.3

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第IV篇、第2节、5

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000 5.3

《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第2节第6条

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.1

《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.1条

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.3

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 5

血压传感器 YY 0781-2010 4.2.3.7

半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996 2.1

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.4

半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993 5.4

《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 第5.1条

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.1

半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993 5.1

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 6

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.3

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.1

集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理 SJ/20961-2006 5.1.1节

军用电子元器件筛选技术要求 GJB 7243-2011 12.3

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 4.1节

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018 6.17.1

一次性使用心电电极 YY/T 0196-2005 4.2.2

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000 5.1

《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018 5.3

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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