石墨烯杂质

信息概要

石墨烯作为一种新型纳米材料，因其优异的导电性、导热性和机械强度被广泛应用于电子、能源、医疗等领域。然而，石墨烯在生产过程中可能引入杂质（如金属残留、氧化物、有机污染物等），这些杂质会显著影响其性能和应用安全性。第三方检测机构通过专业分析手段，为客户提供石墨烯杂质检测服务，确保材料纯度符合行业标准，助力产品质量控制与研发优化。检测的重要性体现在：1）避免杂质导致材料性能衰减；2）满足下游应用领域（如锂电池、生物传感器）的严苛要求；3）符合国际法规（如REACH、RoHS）对纳米材料的合规性监管。

检测项目

碳含量，氧含量，氢含量，氮含量，硫含量，金属杂质（铁、铜、镍、铬等），灰分，水分，挥发性有机物，多环芳烃，粒径分布，比表面积，层数，缺陷密度，电导率，热导率，拉曼光谱特征峰，X射线衍射峰，Zeta电位，抗菌性能

检测范围

氧化石墨烯，还原氧化石墨烯，单层石墨烯，多层石墨烯，石墨烯量子点，石墨烯薄膜，石墨烯粉末，石墨烯浆料，石墨烯气凝胶，石墨烯复合材料，石墨烯导电墨水，石墨烯散热膜，石墨烯增强塑料，石墨烯涂层，石墨烯纤维，石墨烯电池电极，石墨烯传感器，石墨烯催化剂载体，石墨烯生物医用材料，石墨烯过滤膜

检测方法

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：定量分析金属杂质含量。

热重分析法（TGA）：测定灰分、水分及有机物残留。

X射线光电子能谱（XPS）：表面元素化学态分析。

拉曼光谱法：评估石墨烯层数与缺陷结构。

扫描电子显微镜（SEM）：观察表面形貌与粒径。

透射电子显微镜（TEM）：解析原子级层状结构。

比表面积分析（BET）：测定孔隙率与吸附性能。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：检测官能团与有机污染物。

紫外可见分光光度法（UV-Vis）：评估分散性与浓度。

原子力显微镜（AFM）：测量厚度与表面粗糙度。

高效液相色谱（HPLC）：分析有机小分子杂质。

气相色谱-质谱联用（GC-MS）：鉴定挥发性有机物。

四探针电阻仪：测试薄膜电导率。

激光粒度仪：确定颗粒分布范围。

Zeta电位仪：评估分散体系稳定性。

检测仪器

电感耦合等离子体质谱仪，热重分析仪，X射线光电子能谱仪，拉曼光谱仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，比表面积分析仪，傅里叶变换红外光谱仪，紫外可见分光光度计，原子力显微镜，高效液相色谱仪，气相色谱-质谱联用仪，四探针电阻测试仪，激光粒度分析仪，Zeta电位分析仪

北检院部分仪器展示