冷热冲击检测

信息概要

冷热冲击检测是一种用于评估产品在极端温度变化环境下性能稳定性和可靠性的重要测试方法。该检测主要模拟产品在快速温度变化条件下的使用环境，广泛应用于电子元器件、汽车零部件、航空航天设备、军工产品等领域。通过冷热冲击检测，可以及时发现产品在温度骤变情况下的潜在缺陷，如材料开裂、焊接点失效、性能下降等，从而提升产品的质量和可靠性。此项检测对于确保产品在恶劣环境下的正常使用至关重要，是产品质量控制的关键环节之一。

检测项目

温度范围测试,温度变化速率测试,高低温保持时间测试,循环次数测试,外观检查,电气性能测试,机械性能测试,材料耐候性测试,密封性能测试,绝缘性能测试,焊接点可靠性测试,涂层附着力测试,尺寸稳定性测试,功能稳定性测试,耐腐蚀性测试,振动叠加测试,湿热交替测试,低温启动测试,高温老化测试,温度恢复测试

检测范围

电子元器件,汽车电子,航空航天设备,军工产品,通信设备,家用电器,医疗设备,电池产品,LED照明,太阳能组件,塑料制品,橡胶制品,金属制品,涂层材料,复合材料,印刷电路板,半导体器件,传感器,连接器,线缆

检测方法

GB/T 2423.22-2012 温度冲击试验方法：通过快速转换温度环境来模拟产品在极端温度变化下的性能。

IEC 60068-2-14 环境试验第2部分：试验方法N-温度变化试验：国际通用的温度变化测试标准。

MIL-STD-810G 方法503.5 温度冲击试验：军用标准中针对设备在温度冲击环境下的测试要求。

JESD22-A104D 温度循环测试：针对半导体器件的温度循环可靠性测试方法。

ISO 16750-4 道路车辆电气和电子设备的环境条件和试验：汽车电子设备的温度冲击测试标准。

GJB 150.5A-2009 军用设备环境试验方法温度冲击试验：中国军用设备的温度冲击测试规范。

ASTM D3106-2014 橡胶性能的标准试验方法：通过温度冲击评估橡胶材料的性能变化。

IPC-TM-650 2.6.7.2 温度循环测试：印刷电路板的温度循环可靠性测试方法。

SAE J1211 汽车电子设备环境试验指南：包含汽车电子产品的温度冲击测试要求。

EN 60068-2-14 环境试验第2-14部分：试验方法N-温度变化：欧洲标准的温度变化测试方法。

JIS C 0025 环境试验方法（电气电子）温度变化试验：日本工业标准的温度变化测试规范。

GB/T 13543-1992 电子设备用机电元件基本环境试验规程：包含温度冲击试验要求。

MIL-STD-883K 方法1010.8 温度循环：微电子器件的温度循环可靠性测试。

ISO 9022-2 光学和光学仪器环境试验方法：包含光学设备的温度冲击测试。

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法：包含军用电子元件的温度冲击测试。

检测仪器

冷热冲击试验箱,高低温试验箱,温度记录仪,热电偶,数据采集系统,红外热像仪,显微镜,电子万能试验机,绝缘电阻测试仪,耐压测试仪,振动试验机,湿热试验箱,盐雾试验箱,涂层测厚仪,材料分析仪

北检院部分仪器展示