MicroLED巨量转移测试

信息概要

MicroLED巨量转移测试是针对MicroLED显示技术中关键制程环节的检测服务，主要评估巨量转移过程中LED芯片的定位精度、转移效率及可靠性。该测试对于确保MicroLED显示屏的良率、性能及量产可行性至关重要，是推动MicroLED技术商业化落地的核心验证环节。通过第三方检测机构的专业评估，可帮助厂商优化工艺参数、降低生产成本并提升产品竞争力。

检测项目

转移精度，转移效率，芯片破损率，位置偏移量，接触电阻，粘附力，均匀性，亮度一致性，波长一致性，色坐标偏差，漏电流，反向击穿电压，正向电压，发光效率，热阻，散热性能，机械应力耐受性，环境稳定性，老化测试，可修复性

检测范围

RGB MicroLED芯片，单色MicroLED芯片，柔性MicroLED阵列，刚性MicroLED基板，透明MicroLED屏，曲面MicroLED模块，微型显示器，车载MicroLED屏，AR/VR用MicroLED，穿戴设备MicroLED，大尺寸拼接屏，小间距显示屏，超高亮度MicroLED，低功耗MicroLED，量子点色转换MicroLED，垂直结构MicroLED，水平结构MicroLED，倒装MicroLED，薄膜转移MicroLED，自发光MicroLED

检测方法

光学显微镜检测：通过高倍显微镜观察芯片转移后的位置精度和表面缺陷。

激光位移测量：采用激光干涉仪测量芯片三维空间位置的偏移量。

电学性能测试：使用探针台检测芯片的I-V特性曲线及电学参数。

热成像分析：通过红外热像仪评估转移后芯片的散热均匀性。

机械拉力测试：采用微力传感器测量芯片与基板间的粘附强度。

环境试验箱：模拟温湿度变化测试芯片的环境稳定性。

加速老化测试：通过高温高电流加速评估芯片的寿命特性。

光谱分析：使用分光光度计测量发光波长和色度坐标。

X射线检测：非破坏性检查芯片内部结构及焊接质量。

超声波扫描：探测转移层中的气泡或分层缺陷。

共聚焦显微镜：三维形貌测量芯片表面粗糙度和台阶覆盖。

荧光显微镜：观察量子点色转换层的均匀性和失效点。

自动光学检测(AOI)：高速全检芯片的排列完整性和外观缺陷。

接触角测试：评估基板表面处理对转移良率的影响。

纳米压痕测试：测量转移后芯片的机械强度变化。

检测仪器

高精度光学显微镜，激光位移传感器，半导体参数分析仪，红外热像仪，微力测试仪，恒温恒湿试验箱，加速老化测试系统，分光光度计，X射线检测仪，超声波扫描显微镜，共聚焦激光显微镜，荧光显微镜，自动光学检测设备，接触角测量仪，纳米压痕仪

北检院部分仪器展示