结晶破坏XRD衍射实验

信息概要

检测项目

结晶度, 晶粒尺寸, 晶格常数, 晶格畸变, 相组成, 残余应力, 择优取向, 微观应变, 晶体缺陷, 非晶含量, 结晶完整性, 晶体结构稳定性, 结晶相变温度, 结晶动力学参数, 结晶生长速率, 结晶破坏阈值, 结晶均匀性, 结晶取向分布, 结晶界面能, 结晶热稳定性

检测范围

金属材料, 陶瓷材料, 高分子材料, 复合材料, 纳米材料, 半导体材料, 催化剂, 电池材料, 涂层材料, 薄膜材料, 纤维材料, 生物材料, 药物晶体, 矿物材料, 水泥材料, 玻璃材料, 磁性材料, 光学材料, 超导材料, 聚合物材料

检测方法

X射线衍射法（XRD）：通过测量衍射角分析晶体结构。

高分辨X射线衍射（HRXRD）：用于精确测定晶格常数和微观应变。

掠入射X射线衍射（GIXRD）：适用于薄膜或表面结晶结构分析。

小角X射线散射（SAXS）：分析纳米尺度结晶结构。

原位X射线衍射：实时监测结晶结构变化。

变温X射线衍射：研究温度对结晶结构的影响。

应力分析X射线衍射：测定材料残余应力。

定量相分析：通过衍射强度计算各相含量。

结晶度计算：通过非晶散射与结晶衍射强度比计算结晶度。

晶粒尺寸分析：通过衍射峰宽计算晶粒尺寸。

晶体取向分布函数（ODF）：分析多晶材料取向分布。

全谱拟合（Rietveld法）：精确拟合衍射谱解析晶体结构。

同步辐射X射线衍射：利用高亮度光源提高分辨率。

微区X射线衍射：对微小区域进行结晶结构分析。

快速X射线衍射：用于动态过程的高时间分辨率分析。

检测仪器

X射线衍射仪, 高分辨X射线衍射仪, 掠入射X射线衍射仪, 小角X射线散射仪, 原位X射线衍射仪, 变温X射线衍射仪, 应力分析X射线衍射仪, 同步辐射X射线衍射仪, 微区X射线衍射仪, 快速X射线衍射仪, 粉末X射线衍射仪, 单晶X射线衍射仪, 多功能X射线衍射仪, 便携式X射线衍射仪, 实验室X射线衍射仪

北检院部分仪器展示