GB/T 36422扫描电镜测试

信息概要

GB/T 36422扫描电镜测试是一种基于扫描电子显微镜（SEM）技术的材料表面形貌与成分分析检测服务，广泛应用于材料科学、电子、化工、生物医学等领域。该测试通过高分辨率成像和能谱分析，提供样品的微观形貌、元素组成及分布信息，对于产品质量控制、失效分析、研发优化等具有重要价值。检测结果可帮助客户深入了解材料特性，确保产品性能符合行业标准或特定需求。

检测项目

表面形貌分析，元素成分分析，能谱面扫描，能谱线扫描，颗粒尺寸分布，孔隙率测定，涂层厚度测量，界面结合状态，微观缺陷检测，晶体结构观察，污染物分析，表面粗糙度，微观形貌三维重构，元素定量分析，元素定性分析，样品导电性评估，微观应力分析，相分布分析，微观形貌对比，样品制备效果评估

检测范围

金属材料，陶瓷材料，高分子材料，复合材料，纳米材料，半导体材料，生物材料，涂层材料，薄膜材料，纤维材料，粉末材料，矿石样品，电子元器件，化工产品，医疗器械，环境样品，考古样品，食品包装材料，能源材料，建筑材料

检测方法

二次电子成像（SEI）：利用二次电子信号获取样品表面高分辨率形貌图像。

背散射电子成像（BSE）：通过背散射电子信号反映样品原子序数差异。

能谱分析（EDS）：通过X射线能谱测定样品元素组成及分布。

低真空模式：适用于非导电样品，避免电荷积累。

高真空模式：提供更高分辨率成像，适用于导电样品。

场发射扫描电镜（FESEM）：采用场发射电子源，实现纳米级分辨率。

环境扫描电镜（ESEM）：可在一定气体环境中观察样品。

电子背散射衍射（EBSD）：分析样品晶体结构和取向。

三维重构技术：通过多角度成像重建样品三维形貌。

能谱面扫描：获取样品表面元素分布图。

能谱线扫描：沿指定路径分析元素含量变化。

自动颗粒分析：统计样品中颗粒尺寸和分布。

低电压成像：减少对敏感样品的损伤。

高角度环形暗场成像（HAADF）：用于原子级分辨率成像。

原位观察技术：实时观察样品在力、热等作用下的变化。

检测仪器

场发射扫描电子显微镜，环境扫描电子显微镜，能谱仪，电子背散射衍射系统，离子溅射仪，临界点干燥仪，样品切割机，样品研磨机，样品抛光机，超声波清洗机，真空镀膜机，低温断裂装置，超薄切片机，离子束刻蚀系统，三维重构软件

北检院部分仪器展示