ISO 3497 X射线荧光测厚（多层镀层）

信息概要

ISO 3497 X射线荧光测厚（多层镀层）是一种非破坏性检测技术，用于精确测量多层镀层的厚度和成分。该技术广泛应用于电子、汽车、航空航天等行业，确保产品镀层符合质量标准和性能要求。检测的重要性在于保障镀层的耐腐蚀性、导电性、耐磨性等关键性能，避免因镀层不达标导致的产品失效或安全隐患。第三方检测机构通过专业设备和技术，为客户提供准确、可靠的检测数据，助力产品质量控制与合规性认证。

检测项目

镀层厚度，镀层成分，镀层均匀性，镀层附着力，镀层孔隙率，镀层硬度，镀层耐腐蚀性，镀层耐磨性，镀层导电性，镀层反射率，镀层表面粗糙度，镀层结合力，镀层内应力，镀层密度，镀层晶粒尺寸，镀层氧化程度，镀层杂质含量，镀层热稳定性，镀层化学稳定性，镀层光学性能

检测范围

电子元器件镀层，汽车零部件镀层，航空航天镀层，医疗器械镀层，五金工具镀层，珠宝首饰镀层，光学器件镀层，半导体镀层，塑料镀层，金属基材镀层，陶瓷镀层，玻璃镀层，复合材料镀层，装饰性镀层，功能性镀层，防腐镀层，导电镀层，耐磨镀层，反射镀层，磁性镀层

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：通过测量镀层元素发射的荧光X射线，分析镀层厚度和成分。

扫描电子显微镜（SEM）：观察镀层表面形貌和微观结构。

能谱分析（EDS）：结合SEM，分析镀层元素组成。

电化学阻抗谱（EIS）：评估镀层的耐腐蚀性能。

划痕试验：测试镀层与基材的结合力。

显微硬度计：测量镀层的硬度。

盐雾试验：模拟恶劣环境，测试镀层耐腐蚀性。

磨损试验：评估镀层的耐磨性能。

四探针法：测量镀层的导电性。

椭偏仪：分析镀层的光学性能。

X射线衍射（XRD）：确定镀层的晶体结构。

热重分析（TGA）：测试镀层的热稳定性。

紫外可见分光光度计：测量镀层的反射率和透光率。

原子力显微镜（AFM）：分析镀层表面粗糙度。

激光共聚焦显微镜：测量镀层三维形貌。

检测仪器

X射线荧光光谱仪，扫描电子显微镜，能谱仪，电化学工作站，显微硬度计，盐雾试验箱，磨损试验机，四探针测试仪，椭偏仪，X射线衍射仪，热重分析仪，紫外可见分光光度计，原子力显微镜，激光共聚焦显微镜，表面粗糙度仪

北检院部分仪器展示