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北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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双极型晶体管检测

发布时间：2023-05-11 18:49:12 点击数：
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检测样品

双极型晶体管绝缘栅双极型晶体管

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

集电极-发射极击穿电压发射极-基极截止电流（直流法）IEBO发射极-基极击截止电流共发射极正向电流传输比结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗基极-发射极饱和压降电压驻波比集电极-发射极截止电流（直流法）ICEO集电极-基极截止电流 ICBO集电极-发射极饱和电压栅极-发射极阈值电压集电极截止电流集电极-发射极维持电压集电极-发射极截止电流 ICEO结至环境的热阻/结至壳的热阻栅极-发射极阈值电压 VGE(th)S参数集电极-发射极截止电流发射极-基极击穿电压基极-发射极饱和电压1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平集电极-基极截止电流栅极漏电流共发射极正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法） h21E集电极电流为零时的发射极 基极击穿电压集电极-发射极饱和压降输出功率、输出功率频响、增益共发射极正向电流传输比的静态值集电极-基极击穿电压集电极-发射极饱和电压VCEsat开关时间正向电流传输比集电极发射极击穿电压栅极-发射极漏电流 IGES基极-发射极电压噪声系数共发射极正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法）h21E集电极-发射极击穿电压

检测标准

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节10

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节2.2

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 /第IV章、第1节、2.2

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 /第IV章、第1节、10

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ.1.9.6

半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.13

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节5

微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1001

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节3

半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章第1节2.1

半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 第IV章 第1节4

半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.3

半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.4

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节10

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994 /第Ⅳ篇第1节7

半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章第1节3

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节11

半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.3

半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节13.6

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节4

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节3

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节2.2

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ.1.5

微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2006

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节2.1

半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.5

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节2.1

半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章第1节9.6

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994 /第Ⅳ篇第1节10.2

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节4

微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2005

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章 第2节第7条

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ.1.10

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节4

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章 第1节第12条

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节3

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第2节7

半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.2

半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节5

半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.5

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 /第IV章、第1节、2.1

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章 第1节第10条

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994 /第Ⅳ篇第1节6

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994 /第Ⅳ篇第1节4

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ.1.3

半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节14

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节第5条

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节9.6

《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第1节10

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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