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北检(北京)检测技术研究院(简称：北检院)，依托科研测试与材料检测重点领域，结合“211工程”和“985工程”建设，面向学校和社会企业开放的仪器共享机构和跨学科检测交叉融合平台。面向企业及科研单位跨学科研究、面向社会公共服务，构建具有装备优势、人才优势和服务优势的综合科研检测服务平台。 了解更多 +
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检测标准

GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

发布时间：2023-01-28 14:29:24 点击数：
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标准号： GB/T 26070-2010

标准名称： 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

英文名称：Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method

标准状态：现行

发布日期： 2011-01-10

实施日期： 2011-10-01

出版语种：中文简体

替代标准：暂无

引用标准：

提出部门：

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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