抗PID组件电势诱导测试

信息概要

抗PID组件电势诱导测试是针对光伏组件在电势诱导衰减（PID）效应下的性能评估测试。PID效应是光伏组件在长期高电压作用下出现的性能衰减现象，严重影响发电效率和组件寿命。该测试通过模拟实际环境中的高电压条件，评估组件的抗PID能力，确保其长期稳定性和可靠性。检测的重要性在于帮助制造商优化生产工艺，提高产品质量，同时为终端用户提供可靠的产品性能数据，降低投资风险。

检测项目

最大功率衰减率, 绝缘电阻, 漏电流, 电势诱导衰减率, 电致发光性能, 外观检查, 湿漏电流, 温度系数, 填充因子, 开路电压, 短路电流, 串联电阻, 并联电阻, 组件效率, 热斑效应, 机械载荷测试, 湿冻测试, 湿热测试, UV老化测试, 盐雾腐蚀测试

检测范围

单晶硅组件, 多晶硅组件, 薄膜组件, 双面组件, 半片组件, 叠瓦组件, 柔性组件, BIPV组件, 聚光组件, 透明组件, 彩色组件, 轻量化组件, 高效组件, 防眩光组件, 抗反射组件, 防水组件, 防火组件, 防雹组件, 抗风沙组件, 抗盐雾组件

检测方法

电势诱导衰减测试（PID测试）：通过施加高电压模拟PID效应，评估组件性能衰减。

电致发光测试（EL测试）：利用电致发光技术检测组件内部缺陷。

绝缘电阻测试：测量组件在高压下的绝缘性能。

湿漏电流测试：在潮湿条件下检测组件的漏电流情况。

热斑效应测试：评估组件在局部遮挡下的热斑效应。

机械载荷测试：模拟风压和雪压对组件的机械影响。

湿冻测试：通过湿热和冷冻循环测试组件的耐候性。

湿热测试：在高温高湿环境下测试组件的稳定性。

UV老化测试：模拟紫外线辐射对组件的老化影响。

盐雾腐蚀测试：评估组件在盐雾环境下的耐腐蚀性能。

温度系数测试：测量组件性能随温度变化的系数。

填充因子测试：评估组件的输出特性曲线。

开路电压测试：测量组件在无负载条件下的输出电压。

短路电流测试：测量组件在短路条件下的输出电流。

串联电阻测试：评估组件内部串联电阻的影响。

检测仪器

PID测试箱, 电致发光检测仪, 绝缘电阻测试仪, 湿漏电流测试仪, 热斑测试仪, 机械载荷测试机, 湿冻试验箱, 湿热试验箱, UV老化试验箱, 盐雾试验箱, 温度系数测试仪, 填充因子测试仪, 开路电压测试仪, 短路电流测试仪, 串联电阻测试仪

北检院部分仪器展示