微纳光学SiO光子带隙角分辨光谱,检测中心-北检（北京）检测技术研究院

信息概要

微纳光学SiO光子带隙角分辨光谱是一种基于光子晶体结构的光学材料，通过周期性介电常数调制实现特定波段的光子带隙效应。该产品在光通信、传感器、显示技术等领域具有重要应用价值。检测的重要性在于确保其光学性能、结构精度及稳定性满足设计要求，从而保障器件功能性和可靠性。检测内容涵盖带隙特性、角度依赖性、材料均匀性等核心参数，为研发优化和质量控制提供数据支撑。

检测项目

带隙中心波长, 带隙宽度, 角度分辨反射率, 角度分辨透射率, 带隙深度, 偏振依赖性, 波长偏移量, 材料折射率, 结构周期精度, 表面粗糙度, 缺陷密度, 热稳定性, 湿度稳定性, 机械强度, 光学均匀性, 散射损耗, 吸收系数, 色散特性, 非线性光学响应, 环境耐久性

检测范围

一维光子晶体SiO薄膜, 二维光子晶体平板, 三维光子晶体块材, 柔性光子带隙材料, 梯度折射率光子晶体, 多孔SiO光子结构, 掺杂型光子带隙材料, 超表面光子晶体, 可调谐光子带隙器件, 复合结构光子晶体, 纳米压印光子晶体, 自组装光子带隙材料, 全息光栅光子晶体, 等离子体耦合光子结构, 微腔集成光子晶体, 异质结光子带隙材料, 生物相容性光子晶体, 红外波段光子带隙材料, 紫外波段光子晶体, 太赫兹波段光子结构